Новосибирск: СО РАН. — 112 c. — ISSN 0320-7102.
Журнал Автометрия издается в Новосибирске с 1965 года.
Учредителями журнала являются: Сибирское отделение РАН и Институт автоматики и электрометрии СО РАН.
Журнал адресован научным работникам, аспирантам, инженерам и студентам, интересующимся результатами фундаментальных и прикладных исследований в области высоких информационных технологий на базе новейших достижений физики, фотохимии, материаловедения, информатики и компьютерной техники. В журнале публикуются оригинальные статьи и обзоры по следующим разделам:
* анализ и синтез сигналов и изображений;
* системы автоматизации в научных исследованиях и промышленности;
* вычислительные и информационно-измерительные системы;
* физико-технические основы микро- и оптоэлектроники;
* оптические информационные технологии;
* моделирование в физико-технических исследованиях;
* нанотехнологии в оптике и электронике. Содержание номера
М.А. Старков. Статистическая модель бинарных изображений
Д.К. Тхабисимов, Д.А. Усиков. Применение обобщенного гармонического анализа для быстрого распознавания изображений
Ю.А. Быковский, А.С. Зайцев, А.И. Ларкин, А.А. Маркилов, С.Н. Стариков. Корреляционный анализ элементной структуры изображений
Э.Г. Гончаров, Л.Г. Коваленко. Применение модели двумерного случайного поля для выявления и оценки структурных признаков изображения
B.А. Иванов, Б.М. Пушной. Оптимизация времени построения простых фотоизображений
Г.К. Виноградов, И.А. Водоватов, М.Г. Высоцкий, Н.А. Есепкина, Т.И. Зубкова. Оптическое моделирование диаграмм направленности корреляционных антенн
А.А. Лубков. Сравнительный анализ некоторых методов умножения. Аппаратная реализации специализированного умножителя последовательного типа
A.С. Загоруйко. Результаты сравнения релаксационных методов многомерной минимизации на ЭВМ
C.Я. Корсаков, В.В. Крылов, Д.М. Пономарев. Исследование электрофизических параметров диэлектриков методом импульсного зондирования
B.В. Васильев, Т.В. Гуртова, С.А. Дулин, В.Г. Панькин, Л.Д. Покровский. Оптимизация эффективности дифракционного ввода света в 4-слойную волноводную систему
А.Н. Климин, В.С. Макаревич, В.Г. Ремесник, В.Ф. Трегубов, В.Г. Цукерман. Электронно- и рентгеночувствительные резисты на основе халькогенидных пленок Межинститутский семинар «Проблемы современной оптики и спектроскопии»
A.М. Рубенчик. О проблеме лазерного термоядерного синтеза Краткие сообщения
О.В. Маркин, Л.М. Скобов. Метод логического контроля электрических соединений
Е.С. Нежевенко, О.И. Потатуркии. Реализация дисперсионного алгоритма распознавания средствами когерентной оптики
B.П. Майко, А.Н. Писецкий. Анализ характеристик помехозащищенности следящего измерителя
Ю.Е. Дукаревич, В.Н. Нарвер. Голографический способ создания высококонтрастного отсчетного изображения в условиях турбулентной атмосферы
Л.И. Ринтылькут, Э.Г. Сапрыкин, Г.И. Смирнов. Изотопические эффекты в генерации СО-лазеров
А.Н. Родионов. Исследование пороговых характеристик пленок ЕuО при оптической записи информации
А.А. Гусев, Г.Ф. Зайцев, С.В. Кружалов, Л.Н. Пахомов, В.Ю. Петрунькин. Одночастотный АИГ: Nd3+ — лазер с повышенной стабильностью частоты
Учредителями журнала являются: Сибирское отделение РАН и Институт автоматики и электрометрии СО РАН.
Журнал адресован научным работникам, аспирантам, инженерам и студентам, интересующимся результатами фундаментальных и прикладных исследований в области высоких информационных технологий на базе новейших достижений физики, фотохимии, материаловедения, информатики и компьютерной техники. В журнале публикуются оригинальные статьи и обзоры по следующим разделам:
* анализ и синтез сигналов и изображений;
* системы автоматизации в научных исследованиях и промышленности;
* вычислительные и информационно-измерительные системы;
* физико-технические основы микро- и оптоэлектроники;
* оптические информационные технологии;
* моделирование в физико-технических исследованиях;
* нанотехнологии в оптике и электронике. Содержание номера
М.А. Старков. Статистическая модель бинарных изображений
Д.К. Тхабисимов, Д.А. Усиков. Применение обобщенного гармонического анализа для быстрого распознавания изображений
Ю.А. Быковский, А.С. Зайцев, А.И. Ларкин, А.А. Маркилов, С.Н. Стариков. Корреляционный анализ элементной структуры изображений
Э.Г. Гончаров, Л.Г. Коваленко. Применение модели двумерного случайного поля для выявления и оценки структурных признаков изображения
B.А. Иванов, Б.М. Пушной. Оптимизация времени построения простых фотоизображений
Г.К. Виноградов, И.А. Водоватов, М.Г. Высоцкий, Н.А. Есепкина, Т.И. Зубкова. Оптическое моделирование диаграмм направленности корреляционных антенн
А.А. Лубков. Сравнительный анализ некоторых методов умножения. Аппаратная реализации специализированного умножителя последовательного типа
A.С. Загоруйко. Результаты сравнения релаксационных методов многомерной минимизации на ЭВМ
C.Я. Корсаков, В.В. Крылов, Д.М. Пономарев. Исследование электрофизических параметров диэлектриков методом импульсного зондирования
B.В. Васильев, Т.В. Гуртова, С.А. Дулин, В.Г. Панькин, Л.Д. Покровский. Оптимизация эффективности дифракционного ввода света в 4-слойную волноводную систему
А.Н. Климин, В.С. Макаревич, В.Г. Ремесник, В.Ф. Трегубов, В.Г. Цукерман. Электронно- и рентгеночувствительные резисты на основе халькогенидных пленок Межинститутский семинар «Проблемы современной оптики и спектроскопии»
A.М. Рубенчик. О проблеме лазерного термоядерного синтеза Краткие сообщения
О.В. Маркин, Л.М. Скобов. Метод логического контроля электрических соединений
Е.С. Нежевенко, О.И. Потатуркии. Реализация дисперсионного алгоритма распознавания средствами когерентной оптики
B.П. Майко, А.Н. Писецкий. Анализ характеристик помехозащищенности следящего измерителя
Ю.Е. Дукаревич, В.Н. Нарвер. Голографический способ создания высококонтрастного отсчетного изображения в условиях турбулентной атмосферы
Л.И. Ринтылькут, Э.Г. Сапрыкин, Г.И. Смирнов. Изотопические эффекты в генерации СО-лазеров
А.Н. Родионов. Исследование пороговых характеристик пленок ЕuО при оптической записи информации
А.А. Гусев, Г.Ф. Зайцев, С.В. Кружалов, Л.Н. Пахомов, В.Ю. Петрунькин. Одночастотный АИГ: Nd3+ — лазер с повышенной стабильностью частоты