• формат pdf
  • размер 3,75 МБ
  • добавлен 11 июня 2016 г.
Бобров В.А., Кренделев Ф.П., Гофман А.М. Гамма-спектрометрический анализ в камере низкого фона
Новосибирск: Наука, Сибирское отделение, 1975. — 60 с.
Изложены методические разработки, направленные на совершенствование лабораторного сцинтилляционного гамма-спектрометрического метода анализа в приложении к решению задач геохимии естественных радиоактивных элементов (U, Th, К). Повышение чувствительности метода достигнуто за счёт применения сцинтилляторов из Nal (TI) больших размеров, подбора низкорадиоактивных материалов для их упаковки и защиты от внешнего фона. Описывается специализированное низкофоновое помещение.
Книга полезна для геологов, физиков, занимающихся естественной и искусственной радиоактивностью элементов.
Гамма-излучение элементов уранового и ториевого рядов.
Камера низкого фона естественной радиоактивности.
Описание спектрометрических установок.
Методические вопросы анализа на однокристальном спектрометре.
Особенности анализа U(Ra), Th и K на многокристальном спектрометре.
Пороги чувствительности и точность анализа.