• формат djvu
  • размер 11.98 МБ
  • добавлен 19 января 2010 г.
Китайгородский А.И. Рентгеноструктурный анализ мелкокристаллических и аморфных тел
Книга является продолжением книги А. И. Китайгородского "Рентгеноструктурный анализ" (Гостехиздат, 1950) и посвящена применениям рентгеноструктурного анализа и исследованию аморфных и мелкокристаллических веществ.
Книга рассчитана на широкий круг научных работников, работающих с разнообразными мелкокристаллическими и аморфными веществами, неправильными кристаллами, а также сложноструктурными веществами - каучуком, белками, целлулозой, жирными кислотами, ископаемыми углями и другими веществами. Книга предназначена также для аспирантов и студентов старших курсов ВУЗов и ВТУЗов соответствующих специальностей.
Похожие разделы
Смотрите также

Векслер В. и др. Экспериментальные методы ядерной физики

  • формат djvu
  • размер 17.01 МБ
  • добавлен 21 апреля 2011 г.
АН СССР. М. -Л. 1940. 327 с. Предисловие Метод сцинтилляций Ионизационный метод Счетчики Пропорциональные усилители Камера Вильсона Магнитный анализ Получение следов частиц в эмульсии фотопластинок

Гинье А. Рентгенография кристаллов. Теория и практика

  • формат djvu
  • размер 10.16 МБ
  • добавлен 03 апреля 2010 г.
Перевод с французского Е. Н. Беловой, С. С. Квитки, В. П. Тарасовой под редакцией академика Н. В. Белова` М. Наука 1961г. 604 с. Рентгеноструктурный анализ занимается изучением строения тел из атомов и молекул. Он основан на том, что рентгеновские лучи рассеиваются электронами, окружающими атомы, которые в кристаллическом теле образуют естественную дифракционную решетку для рентгеновского излучения. В настоящей книге, написанной выдающимся францу...

Дулов Е.Н., Ивойлов Н.Г. Рентгеноспектральный флуоресцентный анализ: конспект лекций

  • формат pdf
  • размер 599.24 КБ
  • добавлен 21 ноября 2011 г.
Казань: КазГУ, 2008. - 50 с. Конспект составлен по 9 лекциям и предназначен для студентов физического факультета вечернего отделения, к курсу «Компьютерный гамма- и рентгеноспектральный анализ», а также для студентов дневного отделения, к курсу «Рентгеноструктурный и рентгеноспектральный анализ».

Кекало И.Б., Шуваева Е.А. Аморфные, нано - и микрокристаллические магнитные материалы. Лабораторный практикум

Практикум
  • формат djvu
  • размер 10.93 МБ
  • добавлен 28 октября 2011 г.
М.: МИСИС, 2008, 248 с. В лабораторном практикуме по спецкурсу «Аморфные, нано- и микрокристаллические магнитные материалы» представлены описания десяти лабораторных работ, посвященных новым классам магнитно-мягких материалов, которые получают путем закалки из жидкого состояния. Эти материалы обладают уровнем магнитных свойств и их сочетанием с дрyгими физическими свойствами, которые не достигаются в традиционных кристаллических магнитно-мягких...

Китайгородский А.И. Как измеряются расстояния между атомами в кристаллах

Статья
  • формат rtf
  • размер 105.1 КБ
  • добавлен 31 января 2011 г.
Статья из журнала "Квант" №2, 1978 О рентгеноструктурном анализе атомной структуры кристаллов. В этой статье речь пойдет об атомной структуре кристаллов, под которой понимается узор, создаваемый центрами атомов. Задача этой статьи заключается в том, чтобы познакомить читателя с основными идеями рентгеноструктурного анализа и дать представление о дороге, следуя которой, можно определить структуру кристалла: измерить расстояния между атомами, дать...

Китайгородский А.И. Рентгеноструктурный анализ

  • формат djvu
  • размер 19.16 МБ
  • добавлен 19 января 2010 г.
1950. - 651 с. В книге излагаются проблемы современного рентгеноструктурного анализа: кристаллографические основы структурного анализа, получение рентгеновских лучей и взаимодействие их с веществом. Книга рассчитана на научных работников, инженеров, аспирантов и студентов-физиков и химиков старших курсов.

Кочубей Д.И. и др. Рентгеноспектральный метод изучения структуры аморфных тел: EXAFS-спектроскопия

  • формат djv
  • размер 3.47 МБ
  • добавлен 09 апреля 2011 г.
Новосибирск. Наука. Сиб. отд. 1988. 306 с. В монографии подробно описан новый мощный структурный метод, позволяющий в объекте любой сложности и любого агрегатного состояния измерять кривую радиального распределения атомов для локального (до 5 А) координационного окружения заданного химического элемента по дальней тонкой структуре его рентгеновских спектров поглощения (EXAFS-спектроскопия). Рассмотрены теоретические и методические вопросы EXAFS-сп...

Фетисов Г.В. Синхротронное излучение. Методы исследования структуры веществ

  • формат pdf
  • размер 4.36 МБ
  • добавлен 16 сентября 2011 г.
Под ред. Л.А.Асланова - Издательство М.: Физматлит -2007 - 672 с. - Что такое синхротронное излучение (СИ), как оно получается и какими уникальными свойствами обладает? Что нового по сравнению с рентгеновскими лучами из рентгеновских трубок могут дать рентгеновские лучи из источников СИ для исследования атомной структуры веществ? Какие генераторы СИ уже есть в настоящее время и какие могут появиться в ближайшем будущем, где их можно найти и как...

Франк-Каменецкий В.А. Руководство по рентгеновскому исследованию минералов

  • формат djvu
  • размер 31.43 МБ
  • добавлен 21 мая 2010 г.
Л., Недра, 1975. - 399с. Описаны методы и аппаратура рентгенографии поли- и монокристаллических материалов в фотографическом и дифрактометрическом вариантах в комнатных условиях и при повышенных температурах. Краткое содержание: Рентгеновские установки Качественный фазовый анализ Количественный фазовый анализ Прецизионное определение параметров ячейки Высокотемпературная дифрактометрия поликристаллов Фотографические методы ренгенографии монокрис...

Хейденрайх Р. Основы просвечивающей электронной микроскопии

  • формат pdf
  • размер 20.42 МБ
  • добавлен 27 февраля 2011 г.
М., "Мир", 1966. Электронная микроскопия является одним из мощных методов научного исследования и в настоящее время плодотворно применяется в физике, химии, биологии, технике. Предлагаемая книга извеетного американского физика Р. Хейденрайха посвящена теории просвечивающей (трансмиссионной) электронной микроскопии. В ней систематически изложены теоретические основы методов получения изображения кристаллических и аморфных объектов. Подробно рас...