Князев А.В. Сулейманов Е.В. Основы рентгенофазового анализа

Практикум

формат pdf
размер 437.79 КБ
добавлен 15 декабря 2011 г.

Князев А.В. Сулейманов Е.В. Основы рентгенофазового анализа

Учебно-методическое пособие. Нижний Новгород. ГОУ ВПО "Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского". 2005. 23 стр.

Учебно-методическое пособие содержит описание методов обработки и графического индицирования дифрактограмм кристаллов, принадлежащих к кубической сингонии. В процессе выполнения работы студенты обучаются проводить идентификацию индивидуальных веществ по их рентгенографическим характеристикам, рассчитывать число формульных единиц в элементарной ячейке и определять тип ячейки Бравэ.

Похожие разделы

Смотрите также

Вайнштейн Б.К. Структурная электронография

формат djvu
размер 10.05 МБ
добавлен 08 августа 2010 г.

М: Изд-во АН СССР, 1956, 342с Наряду с классическим методом анализа атомной структуры кристаллов — рентгенографией — все большее значение приобретают в настоящее время другие диффракционные методы: электронография и нейтронография. При помощи электронографического метода могут решаться как некоторые общие вопросы структурного анализа, доступные двум другим методам, так и специальные задачи, рентгенографическое (или нейтроиографическое) изучение к...

Иванов С.А., Щукин Г.А. Рентгеновские трубки технического назначения

формат djvu
размер 2.24 МБ
добавлен 06 сентября 2010 г.

Л.: Энергоатомиздат. Ленингр. отд-ние, 1989. — 200 с: ил. Рассмотрены особенности конструкции, параметры и характеристики, методы расчета основных параметров рентгеновских трубок для просвечивания материалов, рентгсноспектрального, рептгеноструктурного анализа, технологических целей. На основе анализа особенностей применения трубок в различных областях науки и техники изложены основные требования к трубкам и пути к выполнению этих требований. Для...

Китайгородский А.И. Рентгеноструктурный анализ

формат djvu
размер 19.16 МБ
добавлен 19 января 2010 г.

1950. - 651 с. В книге излагаются проблемы современного рентгеноструктурного анализа: кристаллографические основы структурного анализа, получение рентгеновских лучей и взаимодействие их с веществом. Книга рассчитана на научных работников, инженеров, аспирантов и студентов-физиков и химиков старших курсов.

Кульментьев А.И., Кульментьева О.П. Методы анализа поверхности твердых тел

формат pdf
размер 2.06 МБ
добавлен 05 августа 2011 г.

Сумы: СумГУ, 2008. - 158 с Пособие содержит материалы лекций по дисциплине "Приборы и методы анализа твердых тел". Изложены фундаметальные вопросы об атомной структуре, особенностях электронной подсистемы и композиционном составе поверъхностей твердых тел. Описаны физическая и химическая адсорбция. Показана взаимосвязь между электронными, атомными и молекулярными процессами, происходящими на поверхности твердого тела и в адсорбционной фазе. Прив...

Лиопо В.А., Война В.В. Рентгеновская Дифрактометрия

формат pdf
размер 4.68 МБ
добавлен 17 ноября 2010 г.

- Учеб. пособие - Гродно: ГрГУ, 2003. В пособии рассмотрены элементы теории рентгеновских лучей, даны характеристики рентгеновских аппаратов, используемых для структурного анализа. Описаны особенности рентгеновских дифрактометров, методика юстировки гониометров, принципы анализа порошковых и монокристальных объектов. Рассмотрены алгоритмы рентгеновского фазового анализа. Приведены примеры использования рентгеновских дифрактометров для решения нек...

Машкова Е.С. Молчанов В.А. Применение рассеяния ионов для анализа твердых тел

формат djvu
размер 5.06 МБ
добавлен 24 марта 2011 г.

Энергоатомиздат, 1995. 176 с. Табл. .2, Ил. .80, Библиогр. : 133 назв. Впервые систематизированы исследования, относящиеся к применению ионно-рассеивательной спектроскопии и спектроскопии атомов отдачи для анализа объемных и поверхностных свойств твердых тел. Рассматриваются физические основы этих методов. Приведена типичная аппаратура, результаты исследования состава, атомной структуры, морфологии и динамических свойств твердых тел. Издание подг...

Никитина Е.А. Рентгенографическое исследование и компьютерное моделирование углеродных материалов

формат pdf
размер 479.47 КБ
добавлен 09 сентября 2010 г.

Петрозаводск: НОЦ"Плазма", 2003. – 22 с. Проанализированы возможности рентгеноструктурного анализа в исследовании атомной структуры углеродных материалов. Показано, что методы рентгенографического анализа и компьютерного моделирования позволяют извлекать достаточно большую информацию о структурном состоянии вещества. Кроме того, могут позволить контролировать чистоту протекания этапов технологического процесса синтеза углеродных материалов.

Пущаровский Д.Ю. Рентгенография минералов

формат pdf
размер 11.59 МБ
добавлен 19 декабря 2010 г.

ЗАО "Геоинформмарк" Москва, 2000. - 288 c. В работе дается описание физических явлений, сопровождающих процессы рассеяния дифракции рентгеновских волн в кристаллах, без привлечения сложного математического аппарата. Рассматриваются природа и свойства рентгеновских лучей, излагаются подходы к решению ряда практических задач рентгенографии металлов, представлены основные принципы рассеяния рентгеновских лучей в кристаллах и теоретичексие основы рен...

Уманский Я.С., Скаков Ю.А. и др. Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия

формат djvu
размер 8.56 МБ
добавлен 20 октября 2009 г.

М.: Металлургия, 1982, 632 с. Приведены необходимые для применения дифракционных методов сведения по кристаллографии. Рассмотрены теоретические основы и практическое использование дифракции рентгеновских лучей, электронов и нейтронов для изучения структуры кристаллов и металлических материалов. Изложены принципы и применение просвечивающей, дифракционной и растровой электронной микроскопии. Описаны методы локального элементного анализа, основанн...

Фелдман Л., Майер Д. Основы анализа поверхности и тонких пленок

формат djvu
размер 2.56 МБ
добавлен 14 августа 2010 г.

Пер. с англ. — М.: Мир, 1989. — 344 с, ил. Монография, написанная известными американскими специалистами в области атомных столкновений в твердых телах, посвящена физическим основам и методам использования пучков ионов, электронов и рентгеновского излучения для анализа структуры и состава тонких пленок вещества. Эти методы играют важную роль в развитии современной атомной технологии, особенно в области микроэлектроники. Все вопросы изложены на вы...