Курсовая работа
  • формат doc
  • размер 434.5 КБ
  • добавлен 04 января 2011 г.
Курсовая работа - Растровый электронный микроскоп
БГТУ, 2008, 31 стр.

Введение
Электронно-микроскопический метод исследования
Физические основы растровой электронной микроскопии
Разновидности растрового электронного микроскопа
Схема растрового электронного микроскопа, назначение его узлов
и их функционирование
Подготовка объектов для исследований и особые требования к ним
Технические возможности растрового электронного микроскоп
Современные виды РЭМ
Заключение
Список литературы
Похожие разделы
Смотрите также

Жукова В.А., Ивахник В.В., Козлов Н.П. Оптика: лабораторный практикум для студентов специальности Химия

Практикум
  • формат pdf
  • размер 2.13 МБ
  • добавлен 16 октября 2010 г.
Самара: «Универс-групп», 2005. 82 с. Лабораторные работы по курсу общей физики «Оптика» предназначены для студентов дневного и вечернего отделений специальности «Химия». Содержание Лабораторная работа 1 Определение фокусного расстояния тонкой линзы Теоретическая часть Экспериментальная часть Лабораторная работа 2 Изучение микрообъектов при помощи микроскопа Теоретическая часть Экспериментальная часть Лабораторная работа 3 Измерение радиуса кри...

Круглов А.В., Голубок А.О. Сканирующая зондовая, спектроскопия и литография

  • формат pdf
  • размер 3.09 МБ
  • добавлен 08 апреля 2011 г.
Москва, НИИФП, ЗАО «НТ-МДТ». - 108 с. В данном учебном пособии представлены лабораторные работы, посвященные изучению методов сканирующей зондовой микроскопии, включая спектроскопические измерения и процессы литографии, а также их применение для исследований и модификации микро- и наноструктур. Учебное пособие предназначено для студентов старших курсов и магистратуры, обучающихся по специальностям: 20200 "Нанотехнология в электронике", 073800 "...

Курсовая работа - Сканирующий зондовый микроскоп СЗМ

Курсовая работа
  • формат doc
  • размер 2.86 МБ
  • добавлен 04 января 2011 г.
БГТУ, 2008, 40 стр Введение Историческая справка Принципы работы сканирующего зондового микроскопа Сканирующие элементы (сканеры) зондовых Сканирующие элементы Нелинейность пьезокерамики Крип пьезокерамики и гистерезис пьезокерамики Устройства для прецизионных перемещений зонда и образца Механические редукторы Шаговые электродвигатели Шаговые пьезодвигатели Защита зондовых микроскопов от внешних воздействий Защита от вибраций Защита от акустиче...

Лисицын С.Г, Оконников Е.Г. Сборник лабораторных работ по физике. Электричество и магнетизм

  • формат doc
  • размер 903.31 КБ
  • добавлен 29 сентября 2009 г.
Озерский технологический институт МИФИ (ОТИ МИФИ), 2005г. -59c Содержание. Предисловие. Методические указания. Работа № 1 Изучение электростатического поля. Работа № 2 Компьютерное моделирование электрических полей точечных зарядов. Работа № 3 Измерение емкости конденсаторов. Работа № 4 Измерение температуры КЮРИ сегнетоэлектрика. Работа № 5 Измерение мощности, внутреннего сопротивления и КПД источника постоянного тока. Работа № 6 Измерение напр...

Никольский К.Н., Батурин А.С. и др. (сост.) Растровый электронный микроскоп. Лабораторная работа

Практикум
  • формат pdf
  • размер 1 МБ
  • добавлен 07 ноября 2011 г.
М.: издательство МФТИ, 2003.- 40 с. Данная лабораторная работа направлена на ознакомление студентов с физическими принципами функционирования растрового электронного микроскопа (РЭМ) и основными методиками измерения. Экспериментальная часть работы заключается в изучении растрового электронного микроскопа Jeol JSM-840, в том числе: ? получение изображения образца в различных режимах работы микроскопа: в режиме сбора истинно вторичных электронов...

Сканирующий зондовый микроскоп NanoEducator

  • формат pdf
  • размер 5 МБ
  • добавлен 11 июня 2011 г.
Руководство пользователя. - Москва, НИИФП, ЗАО «НТ-МДТ», 2008. - 137 с. Принцип работы и конструкция Подготовка прибора к работе Интерфейс программы NanoEducator Проведение измерений Анализ и обработка изображений в программе Scan Viewer Приложения: Травление игл Программный осциллограф Цифровой видеомикроскоп Электронный блок Смотрите Часть 1 - Круглов А. В., Голубок А. О. Сканирующая зондовая, спектроскопия и литография

Стрепетов А.Н. Формирование и регистрация изображения в нейтронном микроскопе

Дисертация
  • формат pdf
  • размер 6.55 МБ
  • добавлен 15 мая 2011 г.
- Москва, - ИАЭ, - 1991, – 156 стр. Диссертация на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук. Специальность: 01.04.16 - физика атомного ядра и елементарних частиц. (На правах рукописи). Научный руководитель: Содержание. Современное состояние проблемы формирования и регистрации нейтронного изображения. Элементы оптики УХН. Оптические элементы для фокусировки нейтронов. Роль гравитационного поля Земли. Сложные ахроматизированн...

Сушкин Н.Г. Электронный микроскоп

  • формат djvu
  • размер 4.86 МБ
  • добавлен 04 сентября 2010 г.
М. 1949. – 274 с. Книга излагает принципы работы и основные конструкции электронных микроскопов. Она содержит также подробное изложение методики использования электронных микроскопов в различных областях науки и техники. Книга предназначена для инженерно-технических работников, работающих в области электронной микроскопии, а также для работников научно-исследовательских институтов и промышленных лабораторий, в которых применяются электронные микр...

Фарбер В.М., Архангельская А.А. Дифракционные методы анализа

  • формат pdf
  • размер 1.62 МБ
  • добавлен 01 июля 2009 г.
В основе описания структуры и свойств металлов и сплавов лежат представления об их кристаллическом строении. Это вызвало необходимость привести в первой части пособия основные уравнения и понятия геометрической кристаллографии: симметрии, прямой и обратной решёток, кристаллографических проекций. Здесь выделены только те узловые вопросы, использование которых необходимо для расчета картин электронной дифракции, анализа деталей структуры на электро...

Шиммель Г. Методика электронной микроскопии

  • формат djvu
  • размер 7.31 МБ
  • добавлен 08 августа 2010 г.
М., Изд-во «МИР», 1972, 300 с. Книга западногерманского специалиста в области электронной микроскопии Г. Шиммеля представляет собой обзор по методике электронно-микроскопических исследований. После обсуждения общих вопросов электронной микроскопии в ней рассмотрены важнейшие характеристики приборов, способы приготовления реплик, приложение метода для изучения фазового состава, динамики (в том числе количественной оценки) разнообразных процессов....