• формат djvu
  • размер 4,00 МБ
  • добавлен 01 октября 2012 г.
Васильев Л.И. Глезер А.М. Современная электронная микроскопия металлических материалов
Л.: ЛДНТП, 1983. — 20 с.: ил. — (Прогрессивные формообразования, металловедение и термообработка).
Работа посвящена электронной микроскопии металлов и сплавов, ее использованию применительно к задачам металловедения. Кратко рассмотрены принципы действия электронных микроскопов, влияние и значение ускоряющего напряжения, требования, предъявляемые к подготовке изучаемых объектов. Содержаться сведения о различных современных электронно-микроскопических методиках, возможностях этих методик, получаемой с их помощью информации.
Брошюра предназначена для металловедов заводских лабораторий, КБ, НИИ и вузов.
Введение
Основные особенности методик ПЭМ.
Основные методики просвечивающей электронной микроскопии
Методика темного поля.
Методика слабого пучка.
Методика построения теоретических электронномикроскопических изображений с помощью ЭВМ.
Метод высоковольтной электронной микроскопии.
Методика прямого разрешения атомнокристаллической структуры.
Методики приготовления электронном икроскопичсск их объектов и артефакты.
Некоторые типичные примеры использования методик ПЭМ для изучения структуры промышленных сплавов
Анализ дефектов упаковки в сплавах на основе кобальта.
Изучение локально-переориентированных областей в деформированных металлах и сплавах.
Выявление природы упрочняющих фаз в пружинных сплавах на основе кобальта.
Изучение структурных особенностей процесса отпуска мартенсита легированных сталей.
Изучение структурных превращении при нагреве аморфных сплавов.
Советы начинающим электронномикроскопистам
Литература