где m – целое положительное число, называемое порядком отражения.
Условие Брэгга-Вульфа позволяет определить межплоскостные расстоя-
ния d в кристалле, поскольку λ обычно известна, а угол θ (брэгговский угол)
можно измерить экспериментально.
Интенсивность дифрагированного луча определяется атомными факто-
рами (способностью изолированного атома когерентно рассеивать рентге-
новское излучение, которая зависят от электронной плотности атомов) и
структурным фактором (способностью одной элементарной ячейки кристал-
ла когерентно рассеивать рентгеновское излучение, которая зависит от рас-
положения атомов в элементарной ячейке), а также интенсивностью тепло-
вых колебаний атомов кристаллической решетки. На нее влияют также раз-
меры и форма объекта, степень совершенства кристалла и другие характери-
стики.
Структурный фактор F(h,k,l) определяется как сумма атомных факторов
с учетом имеющихся пространственных сдвигов фаз между волнами, рассе-
янными различными атомами. Он зависит от числа атомов в элементарной
ячейке и их координат. Интенсивность I(h,k,l) дифракционного максимума с
индексами h,k,l пропорциональна квадрату модуля соответствующего струк-
турного фактора:
I(h,k,l) ~ | F(h,k,l)|
2
. (2.66)
Связь структурного фактора с индивидуальными свойствами каждой
кристаллической структуры лежит в основе структурных исследований кри-
сталлов. Так, в зависимости от симметрии расположения атомов в элемен-
тарной кристаллической ячейке в тех или иных из разрешенных условием
Брэгга-Вульфа направлениях рассеянные атомами волны могут взаимно по-
гаситься, так что интенсивности I(h,k,l) соответствующих дифракционных
максимумов обращаются в нуль. По тому, какие именно дифракционные
максимумы исчезли, можно определить пространственную группу симмет-
рии кристалла. Зная структурные факторы для дифракционных отражений
h,k,l, можно построить распределение электронной плотности кристалла, что
служит теоретической основой структурного анализа кристаллов.
Для создания условий дифракции и регистрации излучения служат рент-
геновские камеры, гониометры и дифрактометры. В рентгеновской камере
дифракционная картина регистрируется на фотопленке, в рентгенновском
дифрактометре – с помощью специальных детекторов. Рентгеновские гонио-