Учебное пособие. — Волгоград, 2002. — 56 с.
Рассмотрены новые методы исследования тонкой структуры с помощью
электронной микроскопии и рентгеновских лучей.
Оглавление.
О физике взаимодействия электрона с веществом.
Электронная микроскопия высокого разрешения.
Аналитическая электронная микроскопия высокого разрешения (АЭМ).
EXAFS-спектроскопия.
Аномальное (резонансное) рассеяние рентгеновских лучей.
Применение синхротронного излучения.
Микрографический метод при исследовании неметаллических включений.
Применение фрактографического метода при исследовании термической и химико-термической обработки для оценки металлургического качества сплавов.
Современные методы анализа азотированных сталей.
О физике взаимодействия электрона с веществом.
Электронная микроскопия высокого разрешения.
Аналитическая электронная микроскопия высокого разрешения (АЭМ).
EXAFS-спектроскопия.
Аномальное (резонансное) рассеяние рентгеновских лучей.
Применение синхротронного излучения.
Микрографический метод при исследовании неметаллических включений.
Применение фрактографического метода при исследовании термической и химико-термической обработки для оценки металлургического качества сплавов.
Современные методы анализа азотированных сталей.