Зайдель А.Н., Островская Г.В., Островский Ю.И. Техника и практика спектроскопии

Учебное пособие по курсу прикладной спектроскопии для студентов университетов и других высших учебных заведений.
М. «Наука» 1972, 375с.

Предисловие
Введение
Измеряемые величины
Характеристики спектрального прибора
Уширение спектральных линий прибором
Глава I. Призма
Элементы призмы и оптические материалы
Преломление и плоскости главного сечения
Дисперсия призмы
Разрешающая способность призмы
Потери света на отражение и поляризующее действие призмы
Астигматизм и кривизна спектральных линий
Типы призм
Глава II. Дифракционная решетка
Устройство решетки и ее основные свойства
Инструментальный контур
Кривизна спектральных линий
Вогнутые решетки
Технология изготовления решеток и их эксплуатация
Глава III. Классификация спектральных приборов и основные их характеристики
Типы спектральных приборов
Параметры призменных и дифракционных приборов
Дисперсия
Разрешающая сила
Светосила спектрального прибора
Пропускание спектрального прибора
Критерии сравнения спектральных приборов
Температурное смещение и дефокусировка спектральных линий
Глава IV. Спектральные приборы
Конструктивные элементы призменных и дифракционных спектральных приборов
Приборы для визуальных наблюдений
Монохроматоры
Призменные спектрографы
Дифракционные спектрографы
Приборы с фотоэлектрической регистрацией
Глава V. Освещение и фокусировка спектральных приборов
Освещение спектрального прибора
Конденсоры
Установка источника и осветительной системы
Фокусировка спектрального прибора
Глава VI. Приборы высокой разрешающей силы
Типы приборов высокой разрешающей силы и их основные свойства
Основные характеристики эталона Фабри—Перо
Типы и конструкции эталона и методы работы с ним
Глава VII. Спектральные приборы с временным разрешением
Методы и ограничения скоростной спектроскопии
Классификация спектральных приборов с временным разрешением
Электронно-оптические преобразователи и усилители света
Спектрометры со сканированием спектра
Установки для получения разрешенных во времени стигматических спектров
Спектрохронографы
Глава VIII. Спектральные приборы с селективной модуляцией
Приборы с селективной амплитудной модуляцией
Фурье-спектрометры
Глава IX. Светофильтры
Общие свойства светофильтров
Абсорбционные фильтры
Отражающие фильтры
Интерференционные фильтры
Дисперсионные фильтры
Интерференционно-поляризационные фильтры
Глава X. Источники света
Основные свойства
Источники сплошного спектра
Источники линейчатого спектра
Глава XI. Измерение длин волн
Нормали длин волн спектральных линий
Влияние рефракции воздуха на измерения длин волн
Фотографические измерения длин волн
Измерительные приборы и техника измерения
Глава XII. Энергетические измерения в спектре
Типы приемников излучения
Свойства фотографических слоев
Нанесение марок почернения
Измерение почернений
Фотографическая фотометрия
Фотоэлементы и счетчики фотонов
Фотоумножители
Измерение фототоков
Сравнение фотографического и фотоэлектрического методов
Глава XIII. Исследование спектров поглощения
Наблюдение спектров поглощения
Основные характеристики линейчатых спектров поглощения и особенности их экспериментального определения
Источники систематических ошибок при измерении линий поглощения
Методы получения поглощающего слоя
Глава XIV. Методы исследования аномальной дисперсии
Метод Пуччианти
Метод крюков
Другие методы исследования дисперсии
Литература
Предметный указатель