Учеб. пособие для вузов. Изд. 2-е, перераб. и доп. М., «Высш.
школа», 1976.
304 с. с ил.
В книге излагаются рефрактометрические методы изучения реальной, атомной и электронной структуры кристаллических веществ.
Рассмотрена зависимость оптических свойств кристаллов от симметрии решетки и расположения структурных единиц в кристаллическом пространстве; показаны возможности определения геометрической изомерии, координации и длин связей атомов, описаны рефрактометрические приемы изучения водородных связей и результаты исследования взаимного влияния атомов в комплексных соединениях.
Большое внимание уделяется экспериментальным методам определения
полярности химических связей.
Приводятся подробные таблицы показателей преломления неорганических кристаллов, детально рассмотрен вопрос о влиянии давления и температуры на рефрактометрические константы химических веществ.
304 с. с ил.
В книге излагаются рефрактометрические методы изучения реальной, атомной и электронной структуры кристаллических веществ.
Рассмотрена зависимость оптических свойств кристаллов от симметрии решетки и расположения структурных единиц в кристаллическом пространстве; показаны возможности определения геометрической изомерии, координации и длин связей атомов, описаны рефрактометрические приемы изучения водородных связей и результаты исследования взаимного влияния атомов в комплексных соединениях.
Большое внимание уделяется экспериментальным методам определения
полярности химических связей.
Приводятся подробные таблицы показателей преломления неорганических кристаллов, детально рассмотрен вопрос о влиянии давления и температуры на рефрактометрические константы химических веществ.