М.: Техносфера, 2004. - 384 с. Распознано
Первый учебник на русском языке по современным методам исследования
для материаловедения. Чрезвычайно чётко и детально описаны
рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и
электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа
включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие
модели электронных микроскопов. Книга адресована широкому кругу
инженеров и студентов, занимающихся изучением и разработкой новых
материалов, нанотехнологиями.