Учеб. пособие / А.И. Цаплин, М.Е. Лихачев; под общ. ред. д-ра техн.
наук., проф. А.И. Цаплина. – Пермь: Изд-во Перм. нац. исслед.
политехн. ун-та, 2011. – 227 с. – ISBN 978-5-398-00727-5.
Рассмотрены основные понятия, проблемы стандартизации и метрологии
в волоконной оптике, необходимые для изучения курса «Методы
измерений в волоконной оптике» в техническом вузе. Приведены
стандартные методы измерений в оптических волокнах, рассмотрены
методы оценки погрешностей измерений, особенности измерений с
учетом их микро- и наноструктурирования.
Предназначено для магистров по направлению «Фотоника и оптоинформатика», обучающихся по профилю «Волоконная оптика». Содержание Волоконная оптика: основные понятия
История развития волоконной оптики
Основные характеристики в волоконной оптике
Категории оптических волокон
Вопросы для самоконтроля
Стандартизация в волоконной оптике
Стандартизация как элемент системы технического регулирования
Особенности стандартизации в волоконной оптике
Работа российских и зарубежных организаций по стандартизации в волоконной оптике
Вопросы для самоконтроля
Метрология в волоконной оптике
Обеспечение единства измерений в системе технического регулирования
Особенности измерений в волоконной оптике
Метрологическое обеспечение единства и качества измерений
Контроль, измерения и тестирование волоконной оптики
Основные понятия и определения
Методы контроля и измерения физических величин
Оценка погрешности измерений
Методы измерений в волоконной оптике
Измерение параметров оптического волокна
Методы определения размеров волокна
Методы измерения механических характеристик
Методы измерения затухания
Методы измерения ширины полосы пропускания
Числовая апертура. Распределение света в дальнем поле
Методы определения характеристик при испытаниях на воздействие внешних факторов
Изменение спектральных характеристик
Измерение дисперсии
Измерения в микро- и наноструктурированных волокнах
Особенности измерений в области нанотехнологий
Методы измерений, применяемые в нанометрологии
Метрологическое обеспечение измерений в нанотехнологиях
Предназначено для магистров по направлению «Фотоника и оптоинформатика», обучающихся по профилю «Волоконная оптика». Содержание Волоконная оптика: основные понятия
История развития волоконной оптики
Основные характеристики в волоконной оптике
Категории оптических волокон
Вопросы для самоконтроля
Стандартизация в волоконной оптике
Стандартизация как элемент системы технического регулирования
Особенности стандартизации в волоконной оптике
Работа российских и зарубежных организаций по стандартизации в волоконной оптике
Вопросы для самоконтроля
Метрология в волоконной оптике
Обеспечение единства измерений в системе технического регулирования
Особенности измерений в волоконной оптике
Метрологическое обеспечение единства и качества измерений
Контроль, измерения и тестирование волоконной оптики
Основные понятия и определения
Методы контроля и измерения физических величин
Оценка погрешности измерений
Методы измерений в волоконной оптике
Измерение параметров оптического волокна
Методы определения размеров волокна
Методы измерения механических характеристик
Методы измерения затухания
Методы измерения ширины полосы пропускания
Числовая апертура. Распределение света в дальнем поле
Методы определения характеристик при испытаниях на воздействие внешних факторов
Изменение спектральных характеристик
Измерение дисперсии
Измерения в микро- и наноструктурированных волокнах
Особенности измерений в области нанотехнологий
Методы измерений, применяемые в нанометрологии
Метрологическое обеспечение измерений в нанотехнологиях