Летохов В.С., Чеботаев В.П. Нелинейная лазерная спектроскопия сверхвысокого разрешения

формат djvu
размер 8.6 МБ
добавлен 08 января 2012 г.

Москва, Наука, 1990. - 512 с.

Дано систематическое изложение основных принципов нелинейной лазерной спектроскопии сверхвысокого разрешения без доплеровского уширения: спектроскопии насыщения поглощения, двухфотонной спектроскопии и спектроскопии лазерно-охлажденных атомов. Изложены как основы теории, так и сведения об экспериментальных методах. Рассмотрены разнообразные применения методов в квантовой метрологии, атомной и молекулярной физике и квантовой электронике.
Для научных работников, инженеров, а также аспирантов и студентов старших курсов, специализирующихся в спектроскопии, оптике, атомной и молекулярной физике, квантовой электронике.

Похожие разделы

Смотрите также

Вагизов Ф.Г. Садыков Э.К. Гайнов Р.Р. Метод задержанных совпадений в гамма-резонансной спектроскопии (теория и практика мессбауэровской спектроскопии)

формат pdf
размер 381.48 КБ
добавлен 21 ноября 2011 г.

Казань: КазФУ, 2011. - 20 с. В настоящее время гамма-резонансная спектроскопия (ГРС) является одним из эффективных методов исследования микроструктуры твердых тел. Традиционной методикой эксперимента в ГРС является измерение энергетических мёссбауэровских спектров поглощения. Наряду с этим существует принципиально отличная методика, основанная на измерении временных мессбауэровских спектров. В этом случае источником информации служит временная з...

Вудраф Д., Делчар Т. Современные методы исследования поверхности

формат djvu
размер 5.52 МБ
добавлен 12 июля 2010 г.

М., Мир, 1989. -564с. В книге излагаются физические основы более двадцати современных методов исследованния поверхности (дифракция медленных электронов, ионная и электронная спектроскопия и т. д. ).

Гоулдстейн Дж., Яковица Х. Практическая растровая электронная микроскопия

формат pdf
размер 36.5 МБ
добавлен 20 мая 2010 г.

М: Мир, 1978, 656 с. В книге подробно изложены различные аспекты растровой электронной микроскопии и рентгеновского микроанализа. Рассмотрены электронная оптика приборов, взаимодействие электронов с твердым телом, формирование изображения и контраст, проблема разрешения, рентгеновские спектры и количественный микроанализ, методы приготовления образцов, а также ряд более специальных вопросов. Книга представляет интерес для материаловедов, химиков...

Зайдель А.Н., Шрейдер Е.Я. Вакуумная спектроскопия и ее применение

формат djvu
размер 4.01 МБ
добавлен 12 июня 2011 г.

Монография (серия - Физика и техника спектрального анализа). Москва, Изд-во Наука, 1976, 218 с. В книге описана экспериментальная техника, спектральные приборы, оптические материалы и источники света, применяемые при исследованиях, связанных с использованием вакуумной ультрафиолетовой области спектра. Изложены также основные результаты по применению этой области к изучению плазмы, атомных спектров, атомных столкновений, флуоресцентного и эмиссион...

Зигбан К., Нордлинг К. Электронная спектроскопия

формат djvu
размер 6.92 МБ
добавлен 04 сентября 2010 г.

Пер. с англ. М.: Мир; Год: 1973; Стр. : 493; Книга посвящена спектроскопии фотоэлектронов, возбужденных рентгеновким или УФ-излучением. Электронная спектроскопия позволяет получать важную информацию об электронной структуре вещества - абсолютных значениях энергии связи электронов на всей совокупности атомных уровней, эффективные заряды атомов, распределение электронов по энергиям в валентной зоне.

Кочубей Д.И. и др. Рентгеноспектральный метод изучения структуры аморфных тел: EXAFS-спектроскопия

формат djv
размер 3.47 МБ
добавлен 09 апреля 2011 г.

Новосибирск. Наука. Сиб. отд. 1988. 306 с. В монографии подробно описан новый мощный структурный метод, позволяющий в объекте любой сложности и любого агрегатного состояния измерять кривую радиального распределения атомов для локального (до 5 А) координационного окружения заданного химического элемента по дальней тонкой структуре его рентгеновских спектров поглощения (EXAFS-спектроскопия). Рассмотрены теоретические и методические вопросы EXAFS-сп...

Кунце Х.-И. Методы физических измерений

формат djvu
размер 3.01 МБ
добавлен 30 ноября 2010 г.

М.: Мир, 1989. - 216 с. Книга физика из ФРГ посвящена принципам, лежащим в основе физического эксперимента. Рассмотрены системы единиц, вопросы планирования эксперимента, законы подобия механики, оптики, заряженных частиц, физики плазмы. Показано, как можно с помощью моделей изучать процессы в сложных системах, кратко изложены основы теории ошибок, особенности различных передаточных устройств, проблемы передачи сигналов, вопросы естественных пред...

Лекции - Современные методы исследования конденсированных материалов

Статья

формат pdf
размер 1.71 МБ
добавлен 20 марта 2011 г.

2008, 78с. Белорусский государственный университет. Физический факультет. Кафедра физики полупроводников и наноэлектроники. Для специализации G 1. 31.04.01.01.06 Физика полупроводников и диэлектриков, G 1. 31.04.01.01.14 Новые материалы и технологии, G 1. 31.04.01.01.17 Микроэлектроника. Содержание Основные понятия. Методы изучения электрических характеристик. Измерение удельного сопротивления. Измерение э. д. с. Холла и магнитосопротивления...

Михайлин В.В. Синхротронное излучение в спектроскопии

формат pdf
размер 2.63 МБ
добавлен 02 марта 2011 г.

М.: НИИЯФ МГУ, 2007. - 161 с. Учебное пособие предназначено для студентов физического факультета МГУ им. М. В. Ломоносова, слушающих курсы «Синхротронное излучение и его применения» и «Спектроскопия твердого тела» и аспирантов, слушающих курс «Методы спектроскопии с синхротронным излучением», Содержание. Свойства синхротронного излучения. Источники и каналы СИ. Спектральные приборы в каналах СИ. Экспериментальные установки в каналах СИ. Методы...

Прокопенко В.Т., Никущенко Е.М., Дмитриев А.Л. и др. Оптико-физические измерения. Лабораторный практикум

Практикум

формат pdf
размер 1.56 МБ
добавлен 04 февраля 2012 г.

Учебное пособие. - Под редакцией д.т.н., проф. В.Т. Прокопенко. СПб: СПб ГУ ИТМО, 2006. 58с Учебное пособие предназначено для студентов 3 и 4 курсов Инженерно-физического факультета СПб ГУ ИТМО, обучающимся по специализации «Лазерная техника и лазерные технологии».