Итоги науки и техники. Пучки заряженных частиц и твердое тело 1990 №01

  • формат pdf
  • размер 98,79 МБ
  • добавлен 19 октября 2016 г.
Москва: ВИНИТИ, 1990. — 156 с. — ISSN 0236-316X. Похил Г.П., Тулинов А.Ф. Физические основы ориентационных явлений Бурдель К.К., Чеченин Н.Г. Спектрометрия обратного рассеяния при исследовании поверхности твердых тел Меликов Ю.В., Тулинов А.Ф., Юминов О.А. Использование эффекта теней при изучении ядерных реакций и деления

Итоги науки и техники. Пучки заряженных частиц и твердое тело 1990 №01

  • формат djvu
  • размер 4,05 МБ
  • добавлен 05 ноября 2016 г.
Москва: ВИНИТИ, 1990. — 156 с. — ISSN 0236-316X. Похил Г.П., Тулинов А.Ф. Физические основы ориентационных явлений Бурдель К.К., Чеченин Н.Г. Спектрометрия обратного рассеяния при исследовании поверхности твердых тел Меликов Ю.В., Тулинов А.Ф., Юминов О.А. Использование эффекта теней при изучении ядерных реакций и деления

Итоги науки и техники. Пучки заряженных частиц и твердое тело 1990 №02

  • формат pdf
  • размер 121,37 МБ
  • добавлен 04 октября 2016 г.
Москва: ВИНИТИ, 1990. — 194 с. — ISSN 0236-316X. Черепин В.Т. Масс-спектрометрия вторичных ионов Крюков Ю.Ю., Чернов И.П. Методы мгновенного ядерного анализа: резерфордовское обратное рассеяние, резонансное обратное рассеяние, метод ядер отдачи, метод обратного рассеяния каналированных частиц Хмелевская В.С., Соловьев С.П., Малынкин В.Г. Новое структурное состояние в металлических системах, индуцированное ионным облучением

Итоги науки и техники. Пучки заряженных частиц и твердое тело 1990 №02

  • формат djvu
  • размер 5,53 МБ
  • добавлен 03 октября 2016 г.
Москва: ВИНИТИ, 1990. — 194 с. — ISSN 0236-316X. Черепин В.Т. Масс-спектрометрия вторичных ионов Крюков Ю.Ю., Чернов И.П. Методы мгновенного ядерного анализа: резерфордовское обратное рассеяние, резонансное обратное рассеяние, метод ядер отдачи, метод обратного рассеяния каналированных частиц Хмелевская В.С., Соловьев С.П., Малынкин В.Г. Новое структурное состояние в металлических системах, индуцированное ионным облучением

Итоги науки и техники. Пучки заряженных частиц и твердое тело 1990 №03

  • формат pdf
  • размер 104,22 МБ
  • добавлен 20 октября 2016 г.
Москва: ВИНИТИ, 1990. — 156 с. — ISSN 0236-316X. Рожанский В.Н. Просвечивающая электронная микроскопия Лукьянов А.Е. Растровая электронная микроскопия Клечковская В.В., Ракова Е.В., Тихонова А.А., Толстихина А.Л. Электронография как метод исследования поверхностных слоев и тонких пленок

Итоги науки и техники. Пучки заряженных частиц и твердое тело 1990 №03

  • формат djvu
  • размер 5,42 МБ
  • добавлен 07 октября 2016 г.
Москва: ВИНИТИ, 1990. — 156 с. — ISSN 0236-316X. Рожанский В.Н. Просвечивающая электронная микроскопия Лукьянов А.Е. Растровая электронная микроскопия Клечковская В.В., Ракова Е.В., Тихонова А.А., Толстихина А.Л. Электронография как метод исследования поверхностных слоев и тонких пленок