Сканирующий зондовый микроскоп NanoEducator

Москва, НИИФП, ЗАО «НТ-МДТ». - 108 с. В данном учебном пособии представлены лабораторные работы, посвященные изучению методов сканирующей зондовой микроскопии, включая спектроскопические измерения и процессы литографии, а также их применение для исследований и модификации микро- и наноструктур. Учебное пособие предназначено для студентов старших курсов и магистратуры, обучающихся по специальностям: 20200 "Нанотехнология в электронике", 073800 "...

БГТУ, 2008, 31 стр. Введение Электронно-микроскопический метод исследования Физические основы растровой электронной микроскопии Разновидности растрового электронного микроскопа Схема растрового электронного микроскопа, назначение его узлов и их функционирование Подготовка объектов для исследований и особые требования к ним Технические возможности растрового электронного микроскоп Современные виды РЭМ Заключение Список литературы

БГТУ, 2008, 40 стр Введение Историческая справка Принципы работы сканирующего зондового микроскопа Сканирующие элементы (сканеры) зондовых Сканирующие элементы Нелинейность пьезокерамики Крип пьезокерамики и гистерезис пьезокерамики Устройства для прецизионных перемещений зонда и образца Механические редукторы Шаговые электродвигатели Шаговые пьезодвигатели Защита зондовых микроскопов от внешних воздействий Защита от вибраций Защита от акустиче...

М.: издательство МФТИ, 2003.- 40 с. Данная лабораторная работа направлена на ознакомление студентов с физическими принципами функционирования растрового электронного микроскопа (РЭМ) и основными методиками измерения. Экспериментальная часть работы заключается в изучении растрового электронного микроскопа Jeol JSM-840, в том числе: ? получение изображения образца в различных режимах работы микроскопа: в режиме сбора истинно вторичных электронов...

- Москва, - ИАЭ, - 1991, – 156 стр. Диссертация на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук. Специальность: 01.04.16 - физика атомного ядра и елементарних частиц. (На правах рукописи). Научный руководитель: Содержание. Современное состояние проблемы формирования и регистрации нейтронного изображения. Элементы оптики УХН. Оптические элементы для фокусировки нейтронов. Роль гравитационного поля Земли. Сложные ахроматизированн...

М. 1949. – 274 с. Книга излагает принципы работы и основные конструкции электронных микроскопов. Она содержит также подробное изложение методики использования электронных микроскопов в различных областях науки и техники. Книга предназначена для инженерно-технических работников, работающих в области электронной микроскопии, а также для работников научно-исследовательских институтов и промышленных лабораторий, в которых применяются электронные микр...

В основе описания структуры и свойств металлов и сплавов лежат представления об их кристаллическом строении. Это вызвало необходимость привести в первой части пособия основные уравнения и понятия геометрической кристаллографии: симметрии, прямой и обратной решёток, кристаллографических проекций. Здесь выделены только те узловые вопросы, использование которых необходимо для расчета картин электронной дифракции, анализа деталей структуры на электро...

М., Изд-во «МИР», 1972, 300 с. Книга западногерманского специалиста в области электронной микроскопии Г. Шиммеля представляет собой обзор по методике электронно-микроскопических исследований. После обсуждения общих вопросов электронной микроскопии в ней рассмотрены важнейшие характеристики приборов, способы приготовления реплик, приложение метода для изучения фазового состава, динамики (в том числе количественной оценки) разнообразных процессов....