Struts V.K., Petrov A.V., Sohoreva V.V., Plotnikov A.L. Массовый перенос элементов и структурно-фазовые изменения в гетерогенных тонкопленочных системах при обработке мощным ионным пучком

Литературный перевод. — Mass transfer of elements and structural-phase changes in heterogeneous thin-film systems under high-power ion beam treatment. Elseiver. Surface and Coatings Technology 158–159 (2002) pp. 643–646. Легирование поверхности материалов, путем перемешивания многоэлементных тонких пленок с поверхностным слоем образца, на настоящий момент является перспективным развивающимся методом. В настоящей работе представлены результаты экспериментов по перемешиванию и структурно-фазовым изменениям в гетерогенных структурах Al-C и Al-Si при воздействии на них мощным ионным пучком (МИП) (состав: ионы углерода-70% и ионы водорода-30%). Нами измерялось распределение концентрации элементов по глубине образца и фазовый состав гетерогенных систем до и после облучения МИП. Сравнение экспериментальных и расчетных данных показало, что ключевую роль, в массопереносе каждого элемента, играет градиент концентрации радиационных дефектов.