• формат pdf
  • размер 7,88 МБ
  • добавлен 10 февраля 2017 г.
Суворов Э.В. Физические основы экспериментальных методов исследования реальной структуры кристаллов
Конспект лекций. Не опубл. Выходные данные не известны. Позднее 1994. — 208 с.
Содержание (главы):
Введение в физику дифракции
Интегральные методы исследования дефектов в кристаллах
Рентгеновская дифракционная микроскопия
Электронная микроскопия высокого разрешения
Основы растровой электронной микроскопии (РЭМ)
Похожие разделы