• формат pdf
  • размер 6,02 МБ
  • добавлен 19 февраля 2014 г.
Автометрия 2002 №06
Новосибирск: СО РАН. — 128 c. — ISSN 0320-7102.
Учредителями журнала являются: Сибирское отделение РАН и Институт автоматики и электрометрии СО РАН.
Журнал адресован научным работникам, аспирантам, инженерам и студентам, интересующимся результатами фундаментальных и прикладных исследований в области высоких информационных технологий на базе новейших достижений физики, фотохимии, материаловедения, информатики и компьютерной техники. В журнале публикуются оригинальные статьи и обзоры по следующим разделам:
* анализ и синтез сигналов и изображений;
* системы автоматизации в научных исследованиях и промышленности;
* вычислительные и информационно-измерительные системы;
* физико-технические основы микро- и оптоэлектроники;
* оптические информационные технологии;
* моделирование в физико-технических исследованиях;
* нанотехнологии в оптике и электронике.
Содержание номера
Системы анализа и синтеза изображений
Злобин В.К., Еремеев В.В., Кузнецов А.Е. Совместная обработка спектрозональных изображений с целью повышения их дешифрируемости
Клочко В.К. Методика определения координат доплеровских элементов разрешения бортовой радиолокационной системы при получении трехмерных изображений поверхности
Шевченко В.Н. Оценивание параметров изображений в условиях многолучевого распространения радиоволн
Ющенко В.П. Круговой апертурный синтез для томографии
Новые технологии и системы
Бакулин Е.П., Бобко В.Д., Золотухин Ю.Н., Золотухина М.А., Нестеров А.А., Пивкин В.Я., Филиппов М.Н., Ян А.П. Управление подачей воздуха в топку парового котла на основе нечетких технологий
Скобелев П.О. Открытые мультиагентные системы для оперативной обработки информации в процессах принятия решений
Системы обработки данных
Кулешов Е.Л., Мищенко А.В. Дисперсия спектральных оценок стационарного случайного процесса при его сегментации
Савченко В.В., Шкулев А.А. Линейная оценка прогнозирования случайного временного ряда при наличии выбросов
Лаходынова Н.В. Об одном методе обеспечения отказоустойчивости неразрезных процессорных матриц СБИС
Физические и технические аспекты микро- и оптоэлектроники
Вайнер Б.Г. Влияние напряжения смещения на поверхностное распределение локального фотоотклика в МДП ПЗИ-ячейках, частично экранированных от латеральной засветки
Твердохлеб П.Е., Малышев А.А. Границы существования нормальных блоховских мод в периодических слоистых средах
Краткие сообщения
Легкий В.Н. Анализ энергетических параметров систем ближней локации
Легкий В.Н. Генераторы наносекундного и субнаносекундного диапазонов длительности для накачки инжекционных лазеров