Новосибирск: СО РАН. — 128 c. — ISSN 0320-7102.
Учредителями журнала являются: Сибирское отделение РАН и Институт
автоматики и электрометрии СО РАН.
Журнал адресован научным работникам, аспирантам, инженерам и студентам, интересующимся результатами фундаментальных и прикладных исследований в области высоких информационных технологий на базе новейших достижений физики, фотохимии, материаловедения, информатики и компьютерной техники. В журнале публикуются оригинальные статьи и обзоры по следующим разделам:
* анализ и синтез сигналов и изображений;
* системы автоматизации в научных исследованиях и промышленности;
* вычислительные и информационно-измерительные системы;
* физико-технические основы микро- и оптоэлектроники;
* оптические информационные технологии;
* моделирование в физико-технических исследованиях;
* нанотехнологии в оптике и электронике. Содержание номера
Анализ и синтез сигналов и изображений
Перетягин Г.И., Серен А.Ю. Уточнение внешней ориентации камер при синхронной съемке с двух космических аппаратов
Моисеев С.Н. Предельное время предсказуемости процессов авторегрессии
Булычев Ю.Г., Елисеев А.В. Обработка измерений в условиях мультиструктурных помех
Телегина М.В. Исследование селективных эффектов центроидной фильтрации для зашумленных изображений
Лапко А.В., Лапко В.А. Непараметрические алгоритмы распознавания образов при случайных значениях коэффициентов размытости ядерных функций
Щетинин В.Г., Абруков В.С., Бражников А.И. Использование метода самоорганизации при синтезе нейросетевых моделей на малых выборках Оптические информационные технологии, элементы и системы
Жаркова Г.М., Петров А.П., Самсонова И.В., Стрельцов С.А., Хачатурян В.М. Угловая селективность дифракционных решеток, сформированных в жидкокристаллических композитах
Швец В.А., Прокопьев В.Ю., Чикичев С.И., Аульченко Н.А. Определение параметров диэлектрических слоев, имплантированных ионами кремния, с помощью спектральной эллипсометрии
Охапкин М.В., Скворцов М.Н., Багаев С.Н. Перестраиваемые одночастотные Nd:YAG- и Yb:YAG-лазеры бегущей волны с диодной накачкой и внутрирезонаторным удвоением частоты
Лычагов В.В., Лякин Д.В., Модель М.Д., Рябухо В.П. Низкокогерентная автокорреляционная интерферометрия слоистых объектов
Арбузов В.А., Дубнищев Ю.Н., Герасимов Д.А., Дружинин Д.А. Оптическая гильберт-диагностика динамических структур в газовых потоках
Сысоев Е.В., Голубев И.В., Куликов Р.В. Оптический метод обнаружения механических дефектов на поверхностях высокого класса чистоты
Слуев В.А., Смирнов К.К. Система управления устройствами лазерной записи
Журнал адресован научным работникам, аспирантам, инженерам и студентам, интересующимся результатами фундаментальных и прикладных исследований в области высоких информационных технологий на базе новейших достижений физики, фотохимии, материаловедения, информатики и компьютерной техники. В журнале публикуются оригинальные статьи и обзоры по следующим разделам:
* анализ и синтез сигналов и изображений;
* системы автоматизации в научных исследованиях и промышленности;
* вычислительные и информационно-измерительные системы;
* физико-технические основы микро- и оптоэлектроники;
* оптические информационные технологии;
* моделирование в физико-технических исследованиях;
* нанотехнологии в оптике и электронике. Содержание номера
Анализ и синтез сигналов и изображений
Перетягин Г.И., Серен А.Ю. Уточнение внешней ориентации камер при синхронной съемке с двух космических аппаратов
Моисеев С.Н. Предельное время предсказуемости процессов авторегрессии
Булычев Ю.Г., Елисеев А.В. Обработка измерений в условиях мультиструктурных помех
Телегина М.В. Исследование селективных эффектов центроидной фильтрации для зашумленных изображений
Лапко А.В., Лапко В.А. Непараметрические алгоритмы распознавания образов при случайных значениях коэффициентов размытости ядерных функций
Щетинин В.Г., Абруков В.С., Бражников А.И. Использование метода самоорганизации при синтезе нейросетевых моделей на малых выборках Оптические информационные технологии, элементы и системы
Жаркова Г.М., Петров А.П., Самсонова И.В., Стрельцов С.А., Хачатурян В.М. Угловая селективность дифракционных решеток, сформированных в жидкокристаллических композитах
Швец В.А., Прокопьев В.Ю., Чикичев С.И., Аульченко Н.А. Определение параметров диэлектрических слоев, имплантированных ионами кремния, с помощью спектральной эллипсометрии
Охапкин М.В., Скворцов М.Н., Багаев С.Н. Перестраиваемые одночастотные Nd:YAG- и Yb:YAG-лазеры бегущей волны с диодной накачкой и внутрирезонаторным удвоением частоты
Лычагов В.В., Лякин Д.В., Модель М.Д., Рябухо В.П. Низкокогерентная автокорреляционная интерферометрия слоистых объектов
Арбузов В.А., Дубнищев Ю.Н., Герасимов Д.А., Дружинин Д.А. Оптическая гильберт-диагностика динамических структур в газовых потоках
Сысоев Е.В., Голубев И.В., Куликов Р.В. Оптический метод обнаружения механических дефектов на поверхностях высокого класса чистоты
Слуев В.А., Смирнов К.К. Система управления устройствами лазерной записи