Бардин В.М. Надежность силовых полупроводниковых приборов

М.: Энергия, 1978. — 96 с. В книге рассмотрены вопросы надежности силовых полупроводниковых приборов (СПП). В качестве базовых изделий выбраны диоды ВК2-200 и тиристоры T160 (ВКДУ-150). Основное внимание при изложении материала уделено механизмам отказа СПП в наиболее распространенных режимах эксплуатации СПП. Кратко изложены методические вопросы проведения испытаний СПП на надежность и приведены результаты экспериментальных исследований.
Книга предназначена для специалистов, занятых как разработкой, так и применением СПП в различных преобразовательных устройствах. Предисловие.
Основные вопросы надежности силовых полупроводниковых приборов.
Условия и особенности работы СПП в преобразовательных устройствах.
Общие вопросы надежности СПП.
Физические основы надежности силовых полупроводниковых приборов.
Особенности работы тиристоров при включении.
Работа СПП при токовых перегрузках.
Механизм разрушения СПП ори тепловом циклировании.
Методические основы определения надежности силовых полупроводниковых приборов.
Подготовка испытаний.
Испытательное оборудование.
Некоторые результаты испытаний СПП.
Некоторые перспективные методы исследования надежности силовых полупроводниковых приборов.
Основы ускоренных испытаний.
Факторное планирование эксперимента.
Индивидуальное прогнозирование надежности.
Индивидуальное параметрическое прогнозирование.
Список литературы.