Лабораторный практикум/ В.В. Беляков, В.С. Першенков, В.Н. Улимов,
И.Н. Швецов-Шиловский. М.: НИЯУ МИФИ, 2010. – 64 с.
Комплекс лабораторных работ, описанный в практикуме, знакомит студентов с физическими процессами, происходящими в современных полевых и биполярных микроэлектронных структурах. При выполнении работ студенты также получают навыки проведения автоматизированного физического эксперимента. В настоящем 3-ем издании заново написана работа 3, посвященная исследованию поверхностных рекомбинационных эффектов. Весь остальной материал практикума подвергся существенной переработке.
Практикум предназначен для студентов факультета «Автоматика и электроника» и Высшего физического колледжа по специальности «Электроника и автоматика физических установок».
Рецензент д-р техн. наук, проф. П.К. Скоробогатов.
Рекомендовано к изданию редсоветом НИЯУ МИФИ.
ISBN 978-5-7262-1307-1.
Содержание.
Предисловие.
Программируемая лабораторная измерительная система.
Объемные рекомбинационные потери в биполярных микроэлектронных структурах.
Поверхностные рекомбинационные потери в биполярных микроэлектронных структурах.
Эффекты продольного падения напряжения в базовой области и оттеснения тока коллектора.
Особенности токопрохождения в микроэлектронных структурах с изопланарной изоляцией.
Определение эффективного заряда в окисле и на поверхностных состояниях границы раздела.
Управление МОП-транзистором по подложке в подпороговой области.
Комплекс лабораторных работ, описанный в практикуме, знакомит студентов с физическими процессами, происходящими в современных полевых и биполярных микроэлектронных структурах. При выполнении работ студенты также получают навыки проведения автоматизированного физического эксперимента. В настоящем 3-ем издании заново написана работа 3, посвященная исследованию поверхностных рекомбинационных эффектов. Весь остальной материал практикума подвергся существенной переработке.
Практикум предназначен для студентов факультета «Автоматика и электроника» и Высшего физического колледжа по специальности «Электроника и автоматика физических установок».
Рецензент д-р техн. наук, проф. П.К. Скоробогатов.
Рекомендовано к изданию редсоветом НИЯУ МИФИ.
ISBN 978-5-7262-1307-1.
Содержание.
Предисловие.
Программируемая лабораторная измерительная система.
Объемные рекомбинационные потери в биполярных микроэлектронных структурах.
Поверхностные рекомбинационные потери в биполярных микроэлектронных структурах.
Эффекты продольного падения напряжения в базовой области и оттеснения тока коллектора.
Особенности токопрохождения в микроэлектронных структурах с изопланарной изоляцией.
Определение эффективного заряда в окисле и на поверхностных состояниях границы раздела.
Управление МОП-транзистором по подложке в подпороговой области.