• формат djvu
  • размер 10,71 МБ
  • добавлен 16 марта 2016 г.
Брандон Д., Каплан У. Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля
М.: Техносфера, 2004. — 384 с. — ISBN 5-94836-018-0.
Первый учебник на русском языке по современным методам исследования для материаловедения. Чрезвычайно чётко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие модели электронных микроскопов. Книга адресована широкому кругу инженеров и студентов, занимающихся изучением и разработкой новых материалов, нанотехнологиями.