• формат pdf
  • размер 52,81 МБ
  • добавлен 02 октября 2016 г.
Данилов В.С. Анализ процессов в полупроводниковых устройствах. Часть 3
Новосибирск: Новосибирский государственный технический университет, 2009. — 80 c.
В третьей части учебного пособия рассмотрены наиболее важные процессы, происходящие в МОП-транзисторах. Адресовано студентам, специализирующимся в области создания полупроводниковых устройств.