Статья. Опубликована в журнале "Метрология" 2007, N11стр.27-34
Показано, что по стандартным методикам можно получить разные значения допускаемой абсолютной погрешности при поверке цифровых и микропроцессорных приборов, что ведет к спорному вопросу о пригодности прибора к эксплуатации.
Показано, что по стандартным методикам можно получить разные значения допускаемой абсолютной погрешности при поверке цифровых и микропроцессорных приборов, что ведет к спорному вопросу о пригодности прибора к эксплуатации.