Учебно-методический комплекс. — М.: РХТУ им. Д.И. Менделеева, 2010.
– 124 с.
Учебно-методический комплекс дисциплины «Основы технологии и методы
анализа высокочистых веществ» подготовки бакалавров по направлению
подготовки «Нанотехнология» с профилем подготовки «Функциональные
наноматериалы и высокочистые вещества».
Развитие всех современных наукоемких технологий, в частности,
твердотельной технологии в микро- и наноэлектронике, невозможно без
углубления и совершенствования наших взглядов на природу твердого
вещества, взаимосвязи его свойств с составом и строением. Поэтому
основной целью дисциплины Основы технологии и методы анализа
высокочистых веществ» является овладение студентами необходимым
объемом знаний по физико-химическим основам технологии получения
чистых и особочистых материалов в направлении полупроводникового
материаловедения.
Оглавление
Учебное пособие
Практикум по технологии и свойствам материалов электронной техники
Электрофизические свойства поверхности металлов и полупроводников
Поверхностные свойства полупроводников и металлов
Определение поверхностной проводимости полупроводника
Определение работы выхода электронов с поверхности
Определение величины объемного заряда на границе раздела полупроводник - диэлектрик
Исследование свойств контакта металл-полупроводник
Литература к практикуму
Приложения А. Межплоскостные расстояний и интенсивности дифракционных колец для некоторых веществ
Приложения Б. Физические параметры некоторых полупроводниковых материалов
Приложения В. Физические параметры некоторых чистых металлов
Тренировочные задания и тесты
Практические занятия по дисциплине
Семинары и методика организации самостоятельной работы
Цель и содержание практических занятий
Методические указания преподавателям
Методические указания к лабораторным работам
Исследование твердофазных материалов методом дифференциального термического анализа (ДТА)
Изучение оксидных наноструктур на поверхности полимерных материалов методом ик-фурье спектроскопии
Определение состояния элементов в оксидных нанослоях на дисперсных твердофазных матрицах по спектрам диффузного отражения
Учебное пособие
Практикум по технологии и свойствам материалов электронной техники
Электрофизические свойства поверхности металлов и полупроводников
Поверхностные свойства полупроводников и металлов
Определение поверхностной проводимости полупроводника
Определение работы выхода электронов с поверхности
Определение величины объемного заряда на границе раздела полупроводник - диэлектрик
Исследование свойств контакта металл-полупроводник
Литература к практикуму
Приложения А. Межплоскостные расстояний и интенсивности дифракционных колец для некоторых веществ
Приложения Б. Физические параметры некоторых полупроводниковых материалов
Приложения В. Физические параметры некоторых чистых металлов
Тренировочные задания и тесты
Практические занятия по дисциплине
Семинары и методика организации самостоятельной работы
Цель и содержание практических занятий
Методические указания преподавателям
Методические указания к лабораторным работам
Исследование твердофазных материалов методом дифференциального термического анализа (ДТА)
Изучение оксидных наноструктур на поверхности полимерных материалов методом ик-фурье спектроскопии
Определение состояния элементов в оксидных нанослоях на дисперсных твердофазных матрицах по спектрам диффузного отражения