Новосибирск : СибГУТИ, 2016. - 61 с.
Учебное пособие «Методы электронной микроскопии» содержит подробное
описание физических основ и экспериментальных методов электронной
микроскопии определения физических и структурных свойств
материалов. Рассматриваются вопросы применения данных методов в
современной науке, технике и технологии. Пособие предназначено для
студентов, обучающихся по направлению 11.03.04 «Электроника и
наноэлектроника», профиль «Интегральная электроника и
наноэлектроника» для дисциплины «Методы диагностики и анализа микро
и наноструктур».