Современное состояние исследований и технические применения.
Т.2.
Под ред. Хасса Г. и Туна Р.Э., пер. с англ. - Москва: Мир, 1967. - 396 с. Книга представляет собой второй том периодического издания, посвященного различным аспектам физики, получения и применения тонких пленок.
Книга состоит из шести обзорных статей, написанных американскими и английскими специалистами по следующим вопросам: дефекты структуры в тонких металлических пленках, пленочный полевой триод с изолированным затвором, измерение оптических констант тонких пленок, просветляющие покрытия для видимой и инфракрасной областей спектра, поглощение солнечного излучения и излучательная способность напыленных покрытий, пленочные схемы.
Статьи содержат полезный справочный материал: таблицы, номограммы, систематизированные сводки формул, обширную библиографию.
Книга предназначается прежде всего для лиц, занимающихся структурой металлических пленок, микроэлектроникой и ее применениями в космических исследованиях и вычислительной технике, а также оптикой тонких пленок. Она может быть весьма полезна для студентов и аспирантов, специализирующихся в указанных областях.
Под ред. Хасса Г. и Туна Р.Э., пер. с англ. - Москва: Мир, 1967. - 396 с. Книга представляет собой второй том периодического издания, посвященного различным аспектам физики, получения и применения тонких пленок.
Книга состоит из шести обзорных статей, написанных американскими и английскими специалистами по следующим вопросам: дефекты структуры в тонких металлических пленках, пленочный полевой триод с изолированным затвором, измерение оптических констант тонких пленок, просветляющие покрытия для видимой и инфракрасной областей спектра, поглощение солнечного излучения и излучательная способность напыленных покрытий, пленочные схемы.
Статьи содержат полезный справочный материал: таблицы, номограммы, систематизированные сводки формул, обширную библиографию.
Книга предназначается прежде всего для лиц, занимающихся структурой металлических пленок, микроэлектроникой и ее применениями в космических исследованиях и вычислительной технике, а также оптикой тонких пленок. Она может быть весьма полезна для студентов и аспирантов, специализирующихся в указанных областях.