Презентация
  • формат ppt
  • размер 17,20 МБ
  • добавлен 21 октября 2014 г.
Исследование материалов и покрытий методом атомно-силовой микроскопии
ИХС РАН, СПб., Пугачев К.Э., 2014 г., 40 слайдов.
Дисциплина «Методы исследования наноматериалов».
Физические основы метода АСМ;
Кантилеверы;
Защитные покрытия на углеродные материалы;
Исследование причин обрыва стекловолокна;
Пленочные газовые сенсоры.