Учебное пособие. - Москва, РХТУ им. Д.И. Менделеева, 1999. - 45
с.
Пособие предназначено для студентов специальности 250300 по курсу "Кинетика электрохимических реакций и методы исследования" по разделу "Методы исследования". В нем приведено изложение важнейших современных аппаратурных методов изучения поверхности металлов, в частности, применяемых в гальванотехнике, при изучении коррозии металлов и сплавов, в электрохимических исследованиях и т.д.
Введение
Теоретические основы методов анализа поверхности
Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФЭС или ЭСХА)
Введение
Основные принципы метода
Принципиальная схема установки РФЭС
Электронная оже-спектроскопия
Введение
Основные принципы метода
Количественный анализ поверхностного слоя
Вторично-ионная масс-спектроскопия (ВИМС)
Введение
Теоретические основы метода
Принципиальная схема метода
Применение
Электронная сканирующая микроскопия с рентгеновским микроанализом
Введение
Принцип работы системы
Использование метода
Оптический поляризационный метод исследования поверхности
Введение
Основы метода
Экспериментальная техника для эллипсометрических измерений
Экспериментальное определение поляризационных углов(формула) и А
Примеры применения эллипсометрии
Эллипсометрическое изучение двойного слоя
Сравнение методов анализа поверхности
Список рекомендуемой литературы
Пособие предназначено для студентов специальности 250300 по курсу "Кинетика электрохимических реакций и методы исследования" по разделу "Методы исследования". В нем приведено изложение важнейших современных аппаратурных методов изучения поверхности металлов, в частности, применяемых в гальванотехнике, при изучении коррозии металлов и сплавов, в электрохимических исследованиях и т.д.
Введение
Теоретические основы методов анализа поверхности
Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФЭС или ЭСХА)
Введение
Основные принципы метода
Принципиальная схема установки РФЭС
Электронная оже-спектроскопия
Введение
Основные принципы метода
Количественный анализ поверхностного слоя
Вторично-ионная масс-спектроскопия (ВИМС)
Введение
Теоретические основы метода
Принципиальная схема метода
Применение
Электронная сканирующая микроскопия с рентгеновским микроанализом
Введение
Принцип работы системы
Использование метода
Оптический поляризационный метод исследования поверхности
Введение
Основы метода
Экспериментальная техника для эллипсометрических измерений
Экспериментальное определение поляризационных углов(формула) и А
Примеры применения эллипсометрии
Эллипсометрическое изучение двойного слоя
Сравнение методов анализа поверхности
Список рекомендуемой литературы