• формат pdf
  • размер 122.39 МБ
  • добавлен 21 августа 2014 г.
Криштал М.М., Ясников И.С. и др. Мир физики и техники. Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения
М.: Техносфера, 2009. — 208 с. — ISBN 978-5-94836-200-7.
Книга посвящена вопросам практического применения сканирующей (растровой) электронной микроскопии с рентгеноспектральным микроанализом. В качестве учебного пособия книга предназначена для инженеров, студентов и обучающихся по специальностям, связанным с машиностроением и материаловедением.