Ланно М., Бургуэн Ж. Точечные дефекты в полупроводниках. Экспериментальные аспекты

Пер. с англ. — Москва: Мир, 1985 — 304 стр.
Перевод с английского д-ра физ.-мат. наук Ю. М. Гальперина, канд. физ.-мат. наук В. И. Козуба, канд. физ.-мат. наук Э. Б. Сонина под редакцией д-ра физ.-мат. наук В. Л. Гуревича
Цель данной книги, написанной французскими учеными, — анализ влияния точечных дефектов на различные физические свойства полупроводников. В книге рассматриваются эффект Яна — Теллера и электронный парамагнитный резонанс, вопросы генерации и рекомбинации носителей тока на примесных центрах.
Предназначена для специалистов, работающих в области физики полупроводников, а также студентов и аспирантов соответствующих специальностей.