Пер. с англ. - Москва: Мир, 1984 - 264 с.
Перевод с английского д-ра физ.-мат. наук Ю. М. Гальперина, канд. физ.-мат. наук В. И. Козуба, канд. физ.-мат. наук Э. Б. Сонина под редакцией д-ра физ.-мат. наук В. Л. Гуревича
Цель данной книги - познакомить читателя с теорией точечных дефектов в полупроводниках. В книге рассматривается геометрия дефектов, теория мелких дефектов, теория глубоких уровней, колебательные свойства, связанные с дефектами, термодинамика дефектов и их миграция.
Для специалистов, работающих в области физики полупроводников, а также студентов и аспирантов соответствующих специальностей.
Перевод с английского д-ра физ.-мат. наук Ю. М. Гальперина, канд. физ.-мат. наук В. И. Козуба, канд. физ.-мат. наук Э. Б. Сонина под редакцией д-ра физ.-мат. наук В. Л. Гуревича
Цель данной книги - познакомить читателя с теорией точечных дефектов в полупроводниках. В книге рассматривается геометрия дефектов, теория мелких дефектов, теория глубоких уровней, колебательные свойства, связанные с дефектами, термодинамика дефектов и их миграция.
Для специалистов, работающих в области физики полупроводников, а также студентов и аспирантов соответствующих специальностей.