Санкт-Петербург: CПбГУ ИТМО, 2011. - 54 с.
В учебном пособии изложена сущность, задачи и методика проведения регрессионного и корреляционного анализа при статистической обработке результатов экспериментальных измерений в оптоэлектронике. Описана методика проверки однородности ряда дисперсий. Рассмотрены линейная и нелинейная модели с одной независимой переменной в случае равенства и неравенства дисперсий, а также методика построения точечных и интервальных оценок коэффициентов регрессии и дисперсии. Изложена методика ортогонализации системы функций на множестве значений аргумента. Описана методика проведения корреляционного анализа для случаев нормального двумерного распределения и его отсутствия. Студентам предлагаются 20 вариантов заданий для выполнения расчетной работы.
В учебном пособии изложена сущность, задачи и методика проведения регрессионного и корреляционного анализа при статистической обработке результатов экспериментальных измерений в оптоэлектронике. Описана методика проверки однородности ряда дисперсий. Рассмотрены линейная и нелинейная модели с одной независимой переменной в случае равенства и неравенства дисперсий, а также методика построения точечных и интервальных оценок коэффициентов регрессии и дисперсии. Изложена методика ортогонализации системы функций на множестве значений аргумента. Описана методика проведения корреляционного анализа для случаев нормального двумерного распределения и его отсутствия. Студентам предлагаются 20 вариантов заданий для выполнения расчетной работы.