САПР в радиоэлектронике
Радиоэлектроника
  • формат pdf
  • размер 9,87 МБ
  • добавлен 02 сентября 2016 г.
Нелаев В.В., Стемпицкий В.Р. Основы САПР в микроэлектронике
Учебное пособие. — Минск: БГУИР, 2008. — 221 c.
В пособии приведено описание физических моделей технологических процессов и приборов микроэлектроники, используемых в современных программных комплексах компьютерного технологического и приборного проектирования.
Введение.
Физические модели технологических операций микроэлектроники.
Пример технологического маршрута формирования приборов ИМС. КМОП-технология.
Модели диффузионного перераспределения примесей в кремнии.
Модели окисления кремния.
Моделирование ионной имплантации.
Моделирование поликремниевой технологии.
Моделирование формирования силицидов.
Моделирование процессов осаждения.
Моделирование травления.
Моделирование химико-механического полирования
.
Физические модели полупроводниковых приборов.
Основные уравнения физики полупроводниковых приборов.
Основы теории статистики носителей заряда.
Пространственный заряд, обусловленный неполной ионизацией, ловушками и дефектами.
Транспортное уравнение энергетического баланса.
Физические явления на границах.
Физические модели переноса носителей заряда.
Модели подвижности носителей заряда.
Модели генерации и рекомбинации носителей.
Модели ударной ионизации
.
Заключение.
Литература.
Приложение.
Предметный указатель.
Аббревиатуры англоязычных терминов, Используемых в микроэлектронике.
Похожие разделы