Пшеницын В.Н., Абаев М.Н., Лызлов Н.Ю. Эллипсометрия в физико-химических исследованиях

Л.: Химия. 1986. 152 с. В книге рассмотрены применения эллипсометрии в физико-химических исследованиях поверхностных слоев на границах между различными фазами. При этом особое внимание уделено реальным свойствам этих слоев - шероховатости, неоднородности, анизотропии и т. д. Этому в значительной степени способствовали оригинальные методические разработки авторов. Результаты эллипсометрическоro исследования сопоставлены, где это было возможно, с данными других методов исследования поверхности. Предназначена научным и инженерно-техническим работникам, занимающимся изучением поверхностных явлений, вопросами коррозии, адсорбции, тонкопленочной технологии. Полезна также студентам и преподавателям вузов.