Москва: Химия, 1993. - 192 с.
Излагаются общие теоретические основы физических методов анализа и
обосновывается место среди них масс-спектрометрических методов.
Рассматриваются основные этапы образования масс-спектра и модели,
описывающие образование ионов; аналитические характеристики
масс-слектрометрических методов и примеры их применения для
элементного анализа природных неорганических объектов и технических
материалов.
Для химиков-аналитиков, работающих в исследовательских лабораториях и в базовых лабораториях аналитической службы (охрана окружающей среды, геология, геохимия, микроэлектроника, лазерная техника, металлургия, сельское хозяйство, медицина и т.д.), а также занимающихся созданием новых приборов. Может быть полезна потребителям масс-спектрометрической информации (физикам, химикам-неорганикам, геологам, технологам и др.) и студентам, специализирующимся в области современных физических методов анализа.
Для химиков-аналитиков, работающих в исследовательских лабораториях и в базовых лабораториях аналитической службы (охрана окружающей среды, геология, геохимия, микроэлектроника, лазерная техника, металлургия, сельское хозяйство, медицина и т.д.), а также занимающихся созданием новых приборов. Может быть полезна потребителям масс-спектрометрической информации (физикам, химикам-неорганикам, геологам, технологам и др.) и студентам, специализирующимся в области современных физических методов анализа.