• Файлы
  • Обратная связь
  • Для правообладателей

Раух Х., Wacker's atlas for characterization of defect in silicon

  1. Файлы
  2. Академическая и специальная литература
  3. Физика
  4. Физика твердого тела
  5. Физика полупроводников
Физика твердого тела
  • Магнитные свойства твердых тел
  • Оптические свойства твердых тел
  • Физика диэлектриков
  • Физика конденсированных сред
  • Физика металлов
  • Физика мягкого вещества
  • Физика поверхности и тонких пленок
  • Физика полупроводников
  • Физика сверхпроводимости
  • Физика сверхтекучести
  • Электронные свойства твердых тел
Справочник
  • формат pdf
  • размер 7,59 МБ
  • добавлен 07 октября 2016 г.
Раух Х., Wacker's atlas for characterization of defect in silicon
Год издания не известен, г. Бургхаузен, Wacker
Атлас Wacker для определения характеристик дефектов в кремнии (Eng)
  • 2008 — 2025 «СтудМед»
  • Файлы
  • Обратная связь
  • Для правообладателей
  • Пользовательское соглашение