Москва: Наука, 1976, - 254 с
Монография посвящена механизмам рассеяния носителей заряда в
инверсионных каналах, процессам захвата их на поверхностные
состояния границы раздела полупроводник — диэлектрик и состояния в
диэлектрике. Рассмотрены вопросы протекания тока через диэлектрик и
вопросы нестабильности МДП-структур, а также механизмы генерации
неосновных носителей заряда в них при неравновесных условиях.
Обсуждаются также структуры приповерхностной области полупроводника
и связанные с этим методики исследования.
Монография будет полезна широкому кругу специалистов по физике
полупроводников, специалистам в области научных основ
микроэлектроники, инженерам, занимающимся разработкой элементов
интегральной микроэлектроники на основе МДП.
В настоящую монографию включена часть результатов исследований. Она
охватывает следующие основные вопросы:
структура и электрофизические характеристики диэлектрических
пленок, выращенных на полупроводниковых, главным образом
германиевых подложках;
структура и свойства границы раздела полупроводник —
диэлектрическая пленка;
электрофизические характеристики приграничной области
полупроводника, в том числе области пространственного заряда
германия в состоянии неравновесного обеднения;
лабораторная технология изготовления германиевого МДП-транзистора и
результаты исследования его основных характеристик;
применение методов модуляционной спектроскопии для исследования
энергетической структуры граничной области полупроводника.
Помимо общего значения для дальнейшего развития
МДП-микроэлектроники, приведенные в монографии материалы полезны
для оценки перспектив практических применений германиевых
МДП-структур и путей создания подобных структур на основе других
полупроводниковых материалов.