Периодика по радиоэлектронике
  • формат pdf
  • размер 4,45 МБ
  • добавлен 08 октября 2012 г.
Технология и конструирование в электронной аппаратуре 2012 №03 май-июнь
Одесса: Политехпериодика. — 56 с.
Основан в 1977 г. Одесским научно-исследовательским технологическим институтом "Темп" как отраслевой научно-технический сборник Министерства промышленности средств связи СССР "Техника средств связи. Серия ТПО". В 1991 г. преобразован в межотраслевой и зарегистри­рован как научно-технический журнал СССР "Технология и конструирование в электронной аппа­ратуре". В 1992 г. перерегистрирован как СМИ Украины под тем же названием.
Журнал включен в международную справочную систему по периодическим и продолжающим­ся изданиям Ulrich’s Periodicals Directory (США).
Авторский коллектив — специалисты и ученые предприятий, организаций, вузов Украины, стран СНГ, Балтии и др.
Периодичность — 6 номеров в год.
Тематические рубрики номеров: техническая политика; современные электронные технологии; новые компоненты для электронной аппаратуры; электронные средства: исследования, разработ­ки; системы передачи и обработки сигналов; микропроцессорные устройства и системы; вопросы приборостроения; энергетическая электроника; биомедицинская электроника; сенсоэлектроника; функциональная микро- и наноэлектроника; обеспечение тепловых режимов; технологические процессы и оборудование; материалы электроники; метрология, стандартизация; к истории науки и техники; новые книги.
Техническая политика
Применение беспроводных систем мониторинга и связи в энергетике. Гречихин В. А., За­молодчиков В. Н., Смольский С. М. (на английском языке + перевод на русский язык)
Системы передачи и обработки сигналов
Хаотическое маскирование информационных сигналов с использованием генератора на базе системы Лю. Иванюк П. В., Политанский Л. Ф., Политанский Р. Л., Элияшив О. М.
Сенсоэлектроника
Компьютерная обработка изображений, полученных при помощи сенсора на базе гетеро­перехода CdS–Cu2S. Борщак В. А.
Функциональная микро- и наноэлектроника
Температурные поля в растущем кристалле «солнечного кремния». Кондрик А. И., Дацен­ко О. А., Ковтун Г. П.
Исследование импульсных характеристик ограничителей напряжения. Каримов А. В., Ёд­горова Д. М., Рахматов А. З., Скорняков С. Л., Петров Д. А., Абдулхаев О. А.
Технологические процессы и оборудование
Метод оценки качества тонкопленочной платы. Спирин В. Г.
Материалы электроники
Нанокомпозиты на основе опаловых матриц с кристаллическими ферротороидальными мультиферроиками. Самойлович М. И., Ринкевич А. Б., Бовтун В., Белянин А. Ф., Нуж­ный Д., Кемпа М., Цветков М. Ю., Клещева С. М.
Влияние толщины и температуры пленок фталоцианина меди на их свойства. Алиева Х. С.
Механизм формирования межслоевых квантовых нитей в легированном цинком Bi2Te
3. Алиева А. П., Алескеров Ф. К., Кахраманов С. Ш., Насибова С. А., Моройдор Е. Д., Пиш­кин М.
Обеспечение тепловых режимов
Экспериментальное исследование энергетических характеристик проницаемого термоэле­мента. Черкез Р. Г., Демьянюк Д. Д.