СПб: СПбГУ ИТМО, 2009. – 115 с.
Описан новый поляризационно-оптического микроскоп, в схеме которого
в контакте с объектом помещен слой жидкого кристалла, что позволило
визуализировать распределение невидимых физических полей на
поверхности изучаемого объекта. Разработана теория визуализации
дефектов микрорельефа, структурных дефектов, а также неоднородных
электрических и магнитных полей. Приведены результаты
экспериментальных исследований с помощью микроскопа объектов
материаловедения, медицины и биологии. Разработанные методы
изучения поверхности обладают новизной, универсальностью,
уникальностью, экспрессивностью, высокой чувствительностью,
разрешающей способностью и не требуют разработки нового
оборудования.
Методические рекомендации адресованы научным сотрудникам,
работающим в областях микроскопии и изучении поверхности, а также
студентам и аспирантам, обучающихся в области материаловедения,
оптики и фотоники.