Москва, МИФИ, 2008. - 260 с. В книге представлены физические основы
экспериментальных методов, являющихся базовыми в исследованиях
наноструктур и поверхности твердого тела: рентгеновская
фотоэлектронная спектроскопия, оже-электронная спектроскопия,
спектроскопия рассеяния медленных ионов, сканирующая зондовая
микроскопия и дифракция медленных эленктронов. Набор этих методов
позволяет проводить исследования структурных, электронных и
магнитных свойств нанообъектов и поверхности.
Для специалистов в области физики поверхности и наноструктур, аспирантов и студентов старших курсов физических специальностей университетов.
Пособие подготовлено в рамках Инновационной образовательной программы.
Для специалистов в области физики поверхности и наноструктур, аспирантов и студентов старших курсов физических специальностей университетов.
Пособие подготовлено в рамках Инновационной образовательной программы.