
Следовательно, 
Лр
3
 = Д*)
 <—
 Д*2
== 
Ад
3
 = Д у!
 —
 Д г/г = Л/1 — Аг
2
. 
(22.13) 
Н 
Аналогично можно получить искажения параллаксов для стан-
дартно расположенных точек 4, 5 и 6. В результате будем иметь 
Др
3
 = Др
4
 = Д р
5
 = Др
6
; 1 
, , , , (22.14) 
А?з = —
 А<
74
 = =
 _
 ) 
Таким образом, влияние рефракции на параллаксы аналогично 
влиянию симметричной дисторсии. 
В аналитической фототриангуляции влияние рефракции учиты-
вается путем введения поправок в измеренные координаты точек 
снимков. 
Если сеть строится на универсальном приборе, то влияние реф-
ракции учитывается с помощью полиномов в процессе внешнего 
ориентирования сети по опорным точкам. 
Влияние кривизны Земли. В геодезии высоты точек местности 
определяют относительно уровенной поверхности II (рис. 289), а 
в фотограмметрии — относительно начальной плоскости Е, кото-
рая в общем случае может занимать произвольное положение. 
Так как начальная плоскость никогда не совпадает с уровенной 
поверхностью, то фотограмметрические высоты содержат система-
тические ошибки, обусловленные кривизной Земли. Очевидно, и 
плановое положение точек местности, полученное в фотограммет-
рии в результате ортогонального проектирования на начальную 
плоскость, отличается от положения их на уровенной поверхности. 
Пусть начальная плоскость проходит через точку Л
0
 — проек-
цию точки А местности на уровенную поверхность и перпендику-
лярна к отвесной прямой АА
0
, т. е. горизонтальна. Примем точку 
Л
 о
 за начало фотограмметрической системы координат ХУ7. и на-
правим ось X вдоль маршрута, а ось 1 — вверх по прямой А
0
А. 
Фотограмметрическую высоту точки М местности обозначим че-
рез Ъ, а геодезическую — через 2
Г
. Условимся считать Землю ша-
ром с центром О и радиусом Ц. 
Из рис. 289 следует 
2
Г
 = М
0
М = М
0
С + СМ. 
Но 
М
0
С = —-—-—/?; СМ=
 2 
соз 0 соз 0 
где 0 — центральный|угол^при точке О между направлениями на 
точки А и М. Так как этот "угол мал, то 
2 
454. 
М
0
С = Я9
2
; СМ =2^1+ .