
 
 
77
недиагональная  компонента 
xy
  при  этом  отлична  от  нуля.  В  условиях  реальных 
экспериментов  обычно  через  образец  пропускают  заданный  ток  и  измеряются 
напряжения  на  контактах,  т.  е.  измеряемой  величиной  является  не  удельная 
проводимость  а,  а  обратная  величина - удельное  сопротивление 
.  Вычисляя  по 
известным  формулам  компоненты  обратного  тензора,  получаем,  что  в  областях 
холловских плато  
e
h
xyxx
2
     ,0 ==
ρρ
. 
(6. 18)
Таким  образом,  диагональная  компонента  сопротивления  обращается  в  нуль 
одновременно  с  диагональной  компонентой  проводимости,  а  недиагональная 
компонента  сопротивления (как  и  проводимости)  принимает  квантованные  значения, 
равные комбинации мировых констант. 
Исследования показывают, что формулы (6. 16), (6. 18) являются точными и не содержат 
поправок,  т.  е.  с  той  точностью,  с  которой  в  эксперименте  можно  измерить 
сопротивление 
xy
,  эта  величина  равняется  Neh
2
.  Это  означает,  что  путем 
высокоточных  измерений  холловского  сопротивления  можно  определить  величину 
he
2
.  Часто  говорится,  что  КЭХ  представляет  собой  метод  прецизионного  измерения 
постоянной тонкой структуры  ce h
2
. Это связано с тем, что значение скорости света  c  
хорошо  известно  из  других  метрологических  измерений  с  точностью,  значительно 
большей, чем точность измерений е и h как в КЭХ, так и с помощью других методов. 
Помимо  измерений  мировых  констант,  КЭХ  получил  и  другое  применение  в 
метрологии. Величина 
2
eh , определяемая из КЭХ, имеет размерность сопротивления и 
численное значение ~25813 Ом. Поэтому структуру с хорошо выраженными плато КЭХ 
можно использовать в качестве эталона сопротивления. 
6.4. Эффекты локализации и их роль в КЭХ. 
Рассмотрим вопрос о физической природе КЭХ, полагая для определенности, что 
речь  идет  об  измерениях  зависимостей 
xx
и 
xy
  от  концентрации  электронов  при 
фиксированном магнитном поле. 
Отсутствие 
xx
  и  постоянство 
xy
  в  некотором  интервале  концентраций 
s
n
 
говорят  о  том,  что  во  всем  этом  интервале  уровень  химического  потенциала  остается 
зафиксированным  в  промежутке  между  уровнями  Ландау.  Это  возможно  лишь  в  том 
случае,  если  в  данном  промежутке  есть  какие-то  состояния,  способные  принять 
s
n
 
электронов и не изменить при этом ток через образец. Иными словами, в образце должен 
существовать  резервуар  локализованных  состояний.  Современные  физические 
представления  связывают  наличие  таких  состояний  с  неизбежно  существующим  в 
образце  случайным  потенциалом,  вызванным,  в  частности,  флуктуациями  в 
расположении примесных ионов. 
Основные понятия о локализации в случайном потенциале были сформулированы 
Андерсоном 
и  Моттом  около 40 лет  тому  назад.  Представим  себе  разрешенную  зону 
энергетических состояний (Рис. 6. 4, а). В идеальном кристалле любое состояние в зоне 
является  делокализованным,  т.  е.  находящиеся  в  нем  электроны  могут  свободно 
двигаться  по  всему  кристаллу.  При  наличии  случайного  потенциала  неоднородностей 
)(rV   состояния  вблизи  края  зоны  становятся  локализованными.  Электроны  этих 
состояний  двигаются  лишь  в  ограниченной  области  кристалла,  не  имея  возможности 
уйти на большое расстояние, и потому не могут дать вклада в ток через образец. Вблизи 
центра  зоны  располагается  область  делокализованных  состояний.  Уровни  энергии  Е
т
, 
разделяющие  локализованные  и  делокализованные  состояния,  называются  порогами