• формат doc
  • размер 266,02 КБ
  • добавлен 28 октября 2013 г.
Wu D., Y. Gong, J.n Y. Liu, X.G. Wang, Y. Liu, T.C. Ma. Модель мощного ионного пучка и исследование моделирования энергии выделяющйся на мишени
Литературный перевод. Model of intense pulsed ion beam and simulation study of energy deposited on target. Elseiver. Surface and Coatings Technology 201 (2007) 6573–6575
Модели Гауссовского типа были применены к реальному напряжению магнитно изолированного ионного диода и мощного ионного пучка около центра диода. Распределение энергии на алюминиевой мишени облученной МИП моделировалось методом Монте-Карло. Были получены количественные результаты по распределению энергии при облучении МИП согласно Гауссовского распределения. Были объяснены случаи облучения МИП алюминиевой мишени под различными углами в одном и двух измерениях. Также были промоделированы процессы распределения энергии во время действия МИП. Кроме того, углы падения ионов Н+ и С+ исследовались в пределах от 20 до 40 градусов. Мы пришли к выводу, что ионы С+ затрагивают физические свойства приповерхностной области, однако ионы Н+ затрагивают более глубокие слои. Энергия МИП главным образом выделяется на поверхности мишени, таким образом, плавление и испарение начинаются с поверхности мишени.