М.: Мир, 1979. — 582 с.
Книга написана коллективом специалистов США и ФРГ и посвящена методам анализа поверхности твердого тела. Дается общая классификация этих методов и подробно излагаются такие методы, как спектрометрия рассеяния медленных ионов, рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, электронная оже-спектроскопия, вторично-ионная масс-спектрометрия и полевая масс-спектрометрия. Г. Венер. Распыление ионами поверхности
Д. Лихтмаи. Методы анализа поверхности и их применение
Т. Бак. Спектрометрия рассеяния медленных ионов
В. Риггс, М. Паркер. Анализ поверхности методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии Предназначена для широкого круга научных работников — физиков и химиков, металловедов и материаловедов, инженеров н технологов, а также для преподавателей вузов и студентов соответствующих специальностей.
Книга написана коллективом специалистов США и ФРГ и посвящена методам анализа поверхности твердого тела. Дается общая классификация этих методов и подробно излагаются такие методы, как спектрометрия рассеяния медленных ионов, рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, электронная оже-спектроскопия, вторично-ионная масс-спектрометрия и полевая масс-спектрометрия. Г. Венер. Распыление ионами поверхности
Д. Лихтмаи. Методы анализа поверхности и их применение
Т. Бак. Спектрометрия рассеяния медленных ионов
В. Риггс, М. Паркер. Анализ поверхности методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии Предназначена для широкого круга научных работников — физиков и химиков, металловедов и материаловедов, инженеров н технологов, а также для преподавателей вузов и студентов соответствующих специальностей.