Золотарев В.М., Никоноров Н.В., Игнатьев А.И. Современные методы исследования оптических материалов. Часть II

Методы исследования поверхности оптических материалов и тонких пленок. Учебное пособие, курс лекций. — СПб: НИУИТМО, 2013г. – 166 стр. Курс лекций является первым учебно-методическим пособием по современным методам исследования оптических материалов. В нем кратко рассмотрены основы рентгеновских, оптических, спектральных и термических методов исследования оптических материалов, в том числе наноматериалов. Дан анализ областей применения этих методов применительно к задачам, связанным с проведением исследований по разработке новых оптических материалов. Описание принципов действия методов сопровождается набором иллюстраций в формате 2D и 3D, которые позволяют представить данные, получаемые на приборах, в наглядной форме, удобной для восприятия многоплановой информации. Учебное пособие разделено на две части. В первой части рассмотрены современные методы изучения химического состава и структуры вещества. Во второй части рассмотрены современные методы исследования поверхности оптических материалов и тонких пленок.
Учебное пособие предназначено для бакалавров и магистров, обучающихся по направлению 200700 «Фотоника и оптоинформатика» по профилю подготовки «Наноматериалы и нанотехнологии фотоники и оптоинформатики» при изучении дисциплин «Конденсированные лазерные среды», «Волноводная фотоника», «Материалы и технологии волоконной и интегральной оптики», «ИК-фотоника», «Спектроскопия и рефрактометрия», «Наноматериалы и нанотехнологии», «Стеклообразные полупроводники для фотоники», «Методы исследования материалов фотоники», «Органические оптические материалы и композиты».