Учебно-методический материал по программе повышения квалификации
«Физико-химические основы нанотехнологий». - Нижний Новгород, ННГУ,
2007. - 77 с.
Рассматриваются методы визуализации пространственного распределения локальной плотности электронных квантовых состояний низкоразмерных структур и отдельных атомов с помощью сканирующей зондовой микроскопии. Излагаются основы теории сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии. Описаны результаты экспериментов, в которых проведена топография и исследована структура локальной плотности состояний в квантовых ямах, квантовых точках и в точечных квантовых контактах. Обсуждаются методы наблюдения локальной плотности состояний электронов, локализованных на отдельных атомах и в квантовых коралях. Рассматриваются методики исследования спиновых состояний отдельных атомов и групп атомов с помощью магнитной резонансно-силовой и магнитной обменно-силовой микроскопии.
Рассматриваются методы визуализации пространственного распределения локальной плотности электронных квантовых состояний низкоразмерных структур и отдельных атомов с помощью сканирующей зондовой микроскопии. Излагаются основы теории сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии. Описаны результаты экспериментов, в которых проведена топография и исследована структура локальной плотности состояний в квантовых ямах, квантовых точках и в точечных квантовых контактах. Обсуждаются методы наблюдения локальной плотности состояний электронов, локализованных на отдельных атомах и в квантовых коралях. Рассматриваются методики исследования спиновых состояний отдельных атомов и групп атомов с помощью магнитной резонансно-силовой и магнитной обменно-силовой микроскопии.