Годымчук А.Ю., Двилис Э.С., Петюкевич М.С. Исследование поверхности наноматериалов с помощью сканирующей зондовой микроскопии

Практикум

формат pdf
размер 1.14 МБ
добавлен 02 сентября 2011 г.

Годымчук А.Ю., Двилис Э.С., Петюкевич М.С. Исследование поверхности наноматериалов с помощью сканирующей зондовой микроскопии

Методические указания к выполнению лабораторных работ по курсу "Отрасли наноиндустрии. Области применения наноматериалов" для магистрантов, обучающихся по направлению 150600 "Материаловедение и технология новых материалов". - Томск, ТПУ, 2010. - 16 с.

Цель работы: получение навыков работы на учебно-исследовательском сканирующем зондовом микроскопе "Nanoeducator"

Введение
Теоретическая часть
Экспериментальная часть
Подготовка зондового датчика
Сканирование поверхности и получение изображения на СЗМ "Nanoeducator"
Требования к отчету
Контрольные вопросы
Список литературы

Похожие разделы

Смотрите также

Булыгина Е.В., Макарчук В.В., Панфилов Ю.В., Оя Д.Р., Шахнов В.А. Наноразмерные структуры: классификация, формирование и исследование

формат djvu
размер 3.54 МБ
добавлен 15 сентября 2011 г.

Учебное пособие для Вузов. - М.: САЙНС-ПРЕСС, 2006, - 80 с., ил. ISBN 5-94818-001-5. В пособии изложены базовые моменты теории и практики формирования и исследований наноструктурированных материалов. Приведен анализ наноразмерных структур, особенностей их свойств, методов изготовления и возможностей применения в приборных устройствах. Рассмотрены принципиальные возможности применения опаловых матриц для получения наноразмерных структур. Приведен...

Векилова Г.В., Иванов А.Н., Ягодкин Ю.Д. Дифракционные и микроскопические методы и приборы для анализа наночастиц и наноматериалов

формат djvu
размер 4.41 МБ
добавлен 29 октября 2010 г.

Москва, МИСиС, 2009. - 145 с. В учебном пособии рассмотрены физические основы методов и аппаратура для проведения рентгеноструктурного, электроно- и нейтронографического анализов, просвечивающей электронной микроскопии, растровой электронной микроскопии и рентгеноспектрального микроанализа, позволяющие исследовать химический состав и структуру различных материалов, в том числе и нанокристаллических. Особое внимание уделено описанию возможностей э...

Гусенко И.В. Изучение методов сканирующей зондовой микроскопии

формат pdf
размер 551.97 КБ
добавлен 02 сентября 2011 г.

Учебно-методическое пособие. - Ростов-на-Дону, ЮФУ, 2008. - 30 с. В учебно-методическом пособии изучаются различные методы сканирующей зондовой микроскопии. Рассматриваются физические основы методов и возможности применения конкретной методики к конкретному материалу. Рассмотрены достоинства и недостатки методов.

Демиховский В.Я., Филатов Д.О. Исследование электронных состояний в низкоразмерных структурах методами сканирующей зондовой микроскопии

формат pdf
размер 2.17 МБ
добавлен 07 августа 2011 г.

Учебно-методический материал по программе повышения квалификации «Физико-химические основы нанотехнологий». - Нижний Новгород, ННГУ, 2007. - 77 с. Рассматриваются методы визуализации пространственного распределения локальной плотности электронных квантовых состояний низкоразмерных структур и отдельных атомов с помощью сканирующей зондовой микроскопии. Излагаются основы теории сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии. Описаны результаты...

Наноматериалы: лабораторный практикум под ред. В.А. Мошникова

Практикум

формат pdf
размер 1.62 МБ
добавлен 22 сентября 2011 г.

И. Е. Грачева, А. В. Гузь, А.А. Кальнин, С. С. Карпова, М. Г. Кунгуров, Л. Б. Матюшкин, В. А. Мошников, А. А. Пономарева, Ю. М. Спивак. Под ред. В. А. Мошникова. СПб.: Изд-во СПбГЭТУ «ЛЭТИ», 2010. 94 с. Дано описание лабораторно-практических работ по образованию фракталов, золь-гель-технологии, атомно-силовой микроскопии, измерению газочувствительных структур с иерархией пор, анализу удельной поверхности порошковых и пористых материалов методом т...

Сергеев А.Г. Введение в нанометрологию

формат pdf
размер 5.97 МБ
добавлен 21 декабря 2011 г.

Учебное пособие. - Владимир, ВлГУ, 2010. – 296 с. Пособие содержит основные сведения по метрологическому обеспечению различных технологических операций в сфере наноиндустрии. Рассмотрены становление в XX – XXI вв. и концепции развития нанометрологии. Подробно изложены современные основы технического обеспечения нанометрологии. Освещены вопросы нестабильности, точности и неопределенности наноизмерений. Особое внимание уделено основным метрологиче...

Усанов Д.А., Яфаров Р.К. Исследование поверхности материалов методом сканирующей туннельной микроскопии

формат pdf
размер 913.87 КБ
добавлен 02 августа 2011 г.

Учебное пособие для студ. фак. Нано- и биомедицинских технологий. – Саратов, СГУ, 2007. - 51 с. Учебное пособие представляет собой руководство к практическим занятия по курсу "Физика полупроводников». Содержит расширенное описание материала, знание которого необходимо при выполнении лабораторной работы по исследованию поверхности материалов методами сканирующей зондовой микроскопии. Для студентов, обучающихся по направлению «Электроника и микро...

Хасанов О.Л. Методы компактирования и консолидации наноструктурных материалов и изделий

формат pdf
размер 2.03 МБ
добавлен 06 апреля 2011 г.

Учебник / О. Л. Хасанов, Э. С. Двилис, З. Г. Бикбаева – Томск: Изд-во Томского политехнического университета, 2008. – 212 с. В учебнике изложены основные методы компактирования и консолидации порошковых наноматериалов и получения из них изделий. Из большого разнообразия наноструктурных материалов в основном рассматриваются объёмные наноструктурные материалы и изготовленные на их основе керамики конструкционного и функционального назначений. Подр...

Чурилов Г.Н. Наноматериалы и нанотехнологии

формат pdf
размер 2.55 МБ
добавлен 20 ноября 2011 г.

Конспект лекций / Чурилов Г.Н., Внукова Н.Г., Глущенко Г.А., Осипова И.В. - Красноярск: СФУ, 2007. 119с. Содержание: Введение в мир наноматериалов Методы получения наночастиц и исследование их свойств Углеродные наноматериалы Применение наноматериалов Библиографический список

Шишкин Е.И. Николаева Е.В. Исследование наноматериалов методами сканирующей зондовой микроскопии

формат pdf
размер 1.56 МБ
добавлен 20 июля 2011 г.

Екатеринбург: ИОНЦ «Нанотехнологии и перспективные материалы», 2008, 32с. Руководство к лабораторным и практическим занятиям специальной дисциплины «Исследование наноматериалов методами сканирующей зондовой микроскопии» составлено в соответствии с требованиями регионального компонента к обязательному минимуму содержания и уровню подготовки бакалавров по направлению 210600 «Нанотехнология» по циклу «Специальные дисциплины и/или дисциплины специал...