Учебное пособие. - Москва, МИТХТ им. М.В.Ломоносова, 2010. - 80
с.
В учебном пособии представлены основные понятия, специфика объектов исследования, классификация физических методов и теоретические основы рентгеновского эксперимента. Главное внимание уделено особенностям нанообъектов и их методов изучения.
Для студентов магистратуры, изучающих дисциплины "Методы исследования реальной кристаллической структуры", "Дифракционные методы исследования кристаллических материалов", "Дифракционные методы исследования редких элементов и материалов на их основе, "Методы исследования кристаллической структуры", и для студентов, изучающих дисциплину "Методы исследования фазового состава и структуры", а также для повышения квалификации аспирантов, научных сотрудников и профессорско-преподавательского состава.
В учебном пособии представлены основные понятия, специфика объектов исследования, классификация физических методов и теоретические основы рентгеновского эксперимента. Главное внимание уделено особенностям нанообъектов и их методов изучения.
Для студентов магистратуры, изучающих дисциплины "Методы исследования реальной кристаллической структуры", "Дифракционные методы исследования кристаллических материалов", "Дифракционные методы исследования редких элементов и материалов на их основе, "Методы исследования кристаллической структуры", и для студентов, изучающих дисциплину "Методы исследования фазового состава и структуры", а также для повышения квалификации аспирантов, научных сотрудников и профессорско-преподавательского состава.