Л.: Машиностроение, Ленингр. отд-ние, 1986. — 232 с, ил.
В книге изложены попроси создания и функционирования подсистем
автоматического контроля в гибких автоматизированных производствах
(ГАП). Рассмотрены классификации видов контроля, принципы и методы
организации потоков контрольно-измерительной информации н
распределение ее по уровням контроля, технические средства
автоматического контроля, типовые структуры подсистем контроля на
примерах ГАП механообработки. ГАП и САПР печатных уэлгп РЭЛ.
Книга предназначена для инженерно-технических работников, занимающихся созданием н эксплуатацией ГАП. Основные понятия и определения
Терминология
Место, цели и задачи подсистем автоматического контроля и диагностирования в иерархической многоуровневой системе управления ГАП
Классифицирование видов технического контроля Методы контроля в ГАП
Обеспечение единства и достоверности контрольно-измерительной информации
Обшне особенности контроля в ГАМ
Принципы и методы контроля с применением средств технического зрения
Методы и алгоритмы тестирования узлов и блоков электронной аппаратуры
Методы самотестирования и самодиагностирования с поиском дефектов
Технические средства контроля в ГАП
Измерительные преобразователи (датчики)
Аналого-цифровые преобразователи и процессоры электрических сигналов
Сенсорные подсистемы технического зрения
Автоматические тестеры
Координатные измерительные машины (КИМ)
Контроль процессов механообработки
Общая характеристика задач и параметров контроля
Принципы, методы и средства контроля режущего инструмента, заготовок н деталей
Примеры подсистем автоматического контроля в действующем производстве
Контроль в ГАП электронных узлов
Гибкие автоматизированные научно-производственные комплексы (ГЛНПК) и задачи контроля
Интегрирование САПР и CAT
Автоматизация визуального производственного контроля
Контроль при автоматизации сборочных операций
Контроль и диагностирование информационных потоков и технического состояния в локальных вычислительных сетях ГАНПК
Заключение
Приложения
Рекомендуемые информационные оценки для проектирования системы датчиков ПР
Характеристики функциональных тестов (ФТ) ОЗУ
S-граф гипотетического микропроцессора
Характеристики серийно выпускаемых измерительных преобразователей (датчиков)
Характеристики систем автоматического контроля БИС и СБИС (США)
Характеристики систем автоматического контроля печатных узлов (США)
Основные технические характеристики отечественных КИМ
Основные технические характеристики микроУВК
Книга предназначена для инженерно-технических работников, занимающихся созданием н эксплуатацией ГАП. Основные понятия и определения
Терминология
Место, цели и задачи подсистем автоматического контроля и диагностирования в иерархической многоуровневой системе управления ГАП
Классифицирование видов технического контроля Методы контроля в ГАП
Обеспечение единства и достоверности контрольно-измерительной информации
Обшне особенности контроля в ГАМ
Принципы и методы контроля с применением средств технического зрения
Методы и алгоритмы тестирования узлов и блоков электронной аппаратуры
Методы самотестирования и самодиагностирования с поиском дефектов
Технические средства контроля в ГАП
Измерительные преобразователи (датчики)
Аналого-цифровые преобразователи и процессоры электрических сигналов
Сенсорные подсистемы технического зрения
Автоматические тестеры
Координатные измерительные машины (КИМ)
Контроль процессов механообработки
Общая характеристика задач и параметров контроля
Принципы, методы и средства контроля режущего инструмента, заготовок н деталей
Примеры подсистем автоматического контроля в действующем производстве
Контроль в ГАП электронных узлов
Гибкие автоматизированные научно-производственные комплексы (ГЛНПК) и задачи контроля
Интегрирование САПР и CAT
Автоматизация визуального производственного контроля
Контроль при автоматизации сборочных операций
Контроль и диагностирование информационных потоков и технического состояния в локальных вычислительных сетях ГАНПК
Заключение
Приложения
Рекомендуемые информационные оценки для проектирования системы датчиков ПР
Характеристики функциональных тестов (ФТ) ОЗУ
S-граф гипотетического микропроцессора
Характеристики серийно выпускаемых измерительных преобразователей (датчиков)
Характеристики систем автоматического контроля БИС и СБИС (США)
Характеристики систем автоматического контроля печатных узлов (США)
Основные технические характеристики отечественных КИМ
Основные технические характеристики микроУВК